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2014 年度 実績報告書

非線形誘電率顕微鏡の高機能化及び電子デバイスへの応用

研究課題

研究課題/領域番号 23226008
研究機関東北大学

研究代表者

長 康雄  東北大学, 電気通信研究所, 教授 (40179966)

研究分担者 山末 耕平  東北大学, 電気通信研究所, 助教 (70467455)
平永 良臣  東北大学, 電気通信研究所, 助教 (70436161)
研究期間 (年度) 2011-04-01 – 2016-03-31
キーワード走査型非線形誘電率顕微鏡 / 超高次非線形誘電率顕微鏡 法 / 原子分解能SNDM / 強誘電体記録 / 半導体計測技術
研究実績の概要

新規高性能走査型非線形誘電率顕微鏡法の開発の中で超高次非線形誘電率顕微鏡法という新しい計測法が確立されてきた.そこで平成26年度も本超高次非線形誘電率顕微鏡法という学問体系を益々発展させるために,より高感度な計測法の確立を図り,同時に新しい計測データの分析法を開発し,超高次非線形誘電率顕微鏡法を更に厚みのある学問体系として構築した.
本研究で新規に開発した,NC-SNDM法をベースにした原子双極子由来の表面電位の定量計測法(SNDP)と従来のNC-SNDM法の開発を進めて更に超高次非線形誘電率顕微鏡法を有機的に組み合わせて原子分解能SNDMの更なる分解能の向上・適応範囲の拡大を図った.
現在までHDD型強誘電体記録で2Tbit/inch2を上回る記録密度の達成や,非線形誘電率の大きな高速再生用材料についての研究が進んできているが,更にこれらを発展させ,実用に近いHDD型強誘電体記録を目指した.具体的な手順としては,先ず薄膜強誘電体の作製において,実験的に確認された表面劣化層の除去法に関して(イオンビーム照射条件等の最適化を行い)詳細に調べこの問題を解決する知見を得た.
超高次非線形誘電率顕微鏡法を駆使して,更に新しい半導体計測技術へ展開した.具体的には,SiCパワーDMOSFETを実動作させ空乏層等の制御電圧に対する変化の可視化を行った.
更に新規デバイスとして,GaNヘムトデバイスの2次元電子ガスの可視化や,高効率太陽電池の開発への寄与を目的とする太陽電池のPN接合の可視化を行った

現在までの達成度 (区分)
現在までの達成度 (区分)

1: 当初の計画以上に進展している

理由

①SiCパワーDMOSFETを実動作させ空乏層等の制御電圧に対する変化の可視化に世界で初めて成功した.
②SiO2/SiC界面の移動度や界面準位密度がMOSFETを作製しなくてもSNDMで評価できるという(Si面に限られるが)予想もしなかった成果を得た.

今後の研究の推進方策

平成27年度も本超高次非線形誘電率顕微鏡法という学問体系を益々発展させるために,より高感度な計測法の確立を図り,同時に新しい計測データの分析法を開発し,超高次非線形誘電率顕微鏡法を更に厚みのある学問体系として構築する.
本研究で新規に開発した,NC-SNDM法をベースにした原子双極子由来の表面電位の定量計測法(SNDP)と従来のNC-SNDM法,並びに開発を進めている超高次非線形誘電率顕微鏡法を有機的に組み合わせて原子分解能SNDMの更なる分解能の向上・適応範囲の拡大を図る.またこの新規SNDM装置にトンネル電流及び原子間力も同時に計測するシステムを組み合わせることにより,多角的な評価も行えるようにする.これを用いてグラフェン/SiC界面やゲート酸化物/Siの界面中のダイポールモーメントの可視化を行う.
現在までHDD型強誘電体記録で高い記録密度の達成や,非線形誘電率の大きな高速再生用材料についての研究が進んできているが,更にこれらを発展させ,実用に近いHDD型強誘電体記録を目指す.具体的なテーマとしては,HDD型強誘電体強誘電体記録再生試験装置を用いた実験において,超高速再生を達成する.
超高次非線形誘電率顕微鏡法を駆使して,更に新しい半導体計測技術へ展開する.具体的には,SiO2/SiC界面を研究し高移動度な界面確立のための指針を得る.次に新規デバイスとして,GaNヘムトデバイスの2次元電子ガスの可視化や,高効率太陽電池の開発への寄与を目的とする,太陽電池のPN接合の可視化, ならびに実動作中でのキャリア分布の可視化等を,新たに開発する分析法を組み込んだ超高次非線形誘電率顕微鏡法を駆使して行う.

  • 研究成果

    (27件)

すべて 2015 2014 その他

すべて 雑誌論文 (8件) (うち国際共著 1件、 査読あり 8件、 謝辞記載あり 5件) 学会発表 (18件) (うち国際学会 18件、 招待講演 3件) 備考 (1件)

  • [雑誌論文] Interfacial capacitance between a ferroelectric Fe3O4 thin film and a semiconducting Nb:SrTiO3 substrate2015

    • 著者名/発表者名
      R. Takahashi,Y. Cho, and M. Lippmaa
    • 雑誌名

      J. Appl. Phys.

      巻: 117 ページ: 014104.-1-10

    • DOI

      10.1063/1.4905384

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Charge gradient microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      Seungbum Hong , Sheng Tong , Woon Ik Park , Yoshiomi Hiranaga , Yasuo Cho, and Andreas Roelofs
    • 雑誌名

      Proc. Natl. Acad. Sci. USA

      巻: 111 ページ: 6566-6569

    • DOI

      10.1073/pnas.1324178111

    • 査読あり / 国際共著
  • [雑誌論文] Nano-Domains and Related Phenomena in Congruent Lithium Tantalate Single Crystals Studied by Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      Yasuo Cho
    • 雑誌名

      IEEE TRANSACTION ON ULTRASONICS, FERROELECTRICS, AND FREQUENCY CONTROL

      巻: 61 ページ: 1368-1378

    • DOI

      10.1109/TUFFC.2014.3045

    • 査読あり / 謝辞記載あり
  • [雑誌論文] Cross-sectional dopant profiling and depletion layer visualization of SiC power double diffused metal-oxide-semiconductor field effect transistor using super-higher-order nonlinear dielectric microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      N. Chinone, T.Nakamura, and Y. Cho
    • 雑誌名

      J. Appl. Phys

      巻: 116 ページ: 084509-1-7

    • DOI

      10.1063/1.4893959

    • 査読あり / 謝辞記載あり
  • [雑誌論文] Improved study of electric dipoles on the Si(100)-2×1 surface by non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      Masataka Suzuki, Kohei Yamasue, Masayuki Abe, Yoshiaki Sugimoto, and Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Appl. Phys. Lett.

      巻: 105 ページ: 101603-1-3

    • DOI

      10.1063/1.4895031

    • 査読あり / 謝辞記載あり
  • [雑誌論文] Atomic-dipole-moment induced local surface potential on Si(111)-(7×7) surface studied by non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Masayuki Abe, Yoshiaki Sugimoto and Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Appl. Phys. Lett.

      巻: 105 ページ: 121601-1-5

    • DOI

      10.1063/1.4896323

    • 査読あり / 謝辞記載あり
  • [雑誌論文] Pb (Zr, Ti)O3 recording media for probe data storage devices prepared by rf magnetron sputtering2014

    • 著者名/発表者名
      Yoshiomi Hiranaga and Yasuo Cho
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys.

      巻: 53 ページ: 09PA05-1-5

    • DOI

      10.7567/JJAP.53.09PA05

    • 査読あり / 謝辞記載あり
  • [雑誌論文] Investigation of solution-processed bismuth-niobium- oxide films2014

    • 著者名/発表者名
      Satoshi Inoue, Tomoki Ariga, Shin Matsumoto, Masatoshi Onoue, Takaaki Miyasako, Eisuke Tokumitsu, Norimichi Chinone, Yasuo Cho,and Tatsuya Shimoda
    • 雑誌名

      J. Appl. Phys.

      巻: 116 ページ: 154103-1-6

    • DOI

      10.1063/1.4898323

    • 査読あり
  • [学会発表] Charge Gradient Microscopy:Electromechanical Charge Scraping at the Nanoscale2015

    • 著者名/発表者名
      S. Hong, S. Tong, Y. Choi, W. Park, Y. Hiranaga, Y. Cho, A. Roelofs
    • 学会等名
      EMA2015
    • 発表場所
      Orlando, Florida
    • 年月日
      2015-01-21 – 2015-01-23
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Simultaneous Observation of Topography and Electric Dipole Moments on Si(100)-2×1 Surface Using Non-Contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      Masataka Suzuki, Kohei Yamasue, Masayuki Abe, Yoshiaki Sugimoto, Yasuo Cho
    • 学会等名
      2014 MRS fall meeting
    • 発表場所
      Boston, USA
    • 年月日
      2014-11-30 – 2014-12-05
    • 国際学会
  • [学会発表] Dipole-Induced Potential Measurement Using Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Yasuo Cho
    • 学会等名
      2014 MRS fall meeting
    • 発表場所
      Boston, USA
    • 年月日
      2014-11-30 – 2014-12-05
    • 国際学会
  • [学会発表] Comparative Study on Pristine and Hydrogen-Intercalated Graphene on 4H-SiC(0001) Surface Using Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Hirokazu Fukidome, Kazutoshi Funakubo, Maki Suemitsu, Yasuo Cho
    • 学会等名
      2014 MRS fall meeting
    • 発表場所
      Boston, USA
    • 年月日
      2014-11-30 – 2014-12-05
    • 国際学会
  • [学会発表] Evaluation of Power SiC -MOSFET Using Super-Higher-Order Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy : Imaging of Carrier Distribution and Depletion Layer2014

    • 著者名/発表者名
      N. Chinone, T. Nakamura, Y. Cho
    • 学会等名
      ISTFA 2014
    • 発表場所
      Houston, Texas
    • 年月日
      2014-11-09 – 2014-11-13
    • 国際学会
  • [学会発表] High resolution imaging of dopant and depletion layer distribution in SiC power MOSFET using super-higher-order nonlinear dielectric microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      Norimichi Chinone, Takashi Nakamura, Yasuo Cho
    • 学会等名
      ESREF2014
    • 発表場所
      Berlin, Germany
    • 年月日
      2014-09-29 – 2014-10-06
    • 国際学会
  • [学会発表] Investigation of Hydrogen-Intercalated Graphene on 4H-SiC(0001) by Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Hirokazu Fukidome, Kazutoshi Funakubo, Maki Suemitsu, Yasuo Cho
    • 学会等名
      ECOSS30
    • 発表場所
      Antalya, TURKEY
    • 年月日
      2014-08-31 – 2014-09-05
    • 国際学会
  • [学会発表] A New Atomically Resolved Potentiometry for Dipole-Induced Local Surface Potential Based on Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, Yasuo Cho
    • 学会等名
      ECOSS30
    • 発表場所
      Antalya, TURKEY
    • 年月日
      2014-08-31 – 2014-09-05
    • 国際学会
  • [学会発表] Investigation of electric dipole moments on Si(100)-2×1 surface using non-contact scanning nonlinear dielectric microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      Masataka Suzuki, Kohei Yamasue, Masayuki Abe, Yoshiaki Sugimoto, Yasuo Cho
    • 学会等名
      ECOSS30
    • 発表場所
      Antalya, TURKEY
    • 年月日
      2014-08-31 – 2014-09-05
    • 国際学会
  • [学会発表] Charge gradient microscopy: high-speed visualization of polarization charges using a nanoscale probe2014

    • 著者名/発表者名
      eungbum Hong, Sheng Tong, Woon Ik Park, Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho, and Andreas Roelofs
    • 学会等名
      Nanoscale Spectroscopy and Nanotechnology 8
    • 発表場所
      Chicago, USA
    • 年月日
      2014-07-28 – 2014-07-31
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] High-Resolution Imaging of Hydrogen-Intercalated Graphene on 4H-SiC(0001) Using Non-Contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      Kohei Yamasue, H. Fukidome, K. Funakubo, M. Suemitsu, Y. Cho
    • 学会等名
      ICN+T 2014
    • 発表場所
      Vail, Colorado, USA
    • 年月日
      2014-07-20 – 2014-07-25
    • 国際学会
  • [学会発表] A Novel Method for Simultaneous Measurement of Topography and Dipole-Induced Local Surface Potential Based on Noncontact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      K. Yamasue, Yasuo Cho
    • 学会等名
      ICN+T 2014
    • 発表場所
      Vail, Colorado, USA
    • 年月日
      2014-07-20 – 2014-07-25
    • 国際学会
  • [学会発表] Study of Electric Dipole Moment Distribution on Si(100)-2×1 Surface by Non-Contact Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      Masataka Suzuki, K. Yamasue, M. Abe, Y. Sugimoto, Y. Cho
    • 学会等名
      ICN+T 2014
    • 発表場所
      Vail, Colorado, USA
    • 年月日
      2014-07-20 – 2014-07-25
    • 国際学会
  • [学会発表] Conduction in nanodomain inversion dots in congruent lithium tantalate single crystal2014

    • 著者名/発表者名
      Y. Cho
    • 学会等名
      ECAPD 2014
    • 発表場所
      Vilnius, Lithuania
    • 年月日
      2014-07-07 – 2014-07-11
    • 国際学会
  • [学会発表] Measurement of Polarization Structure in Layered Piezoelectric Thin Films Using Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy2014

    • 著者名/発表者名
      H. Odagawa, T. Yanagitani, Y. Cho
    • 学会等名
      ECAPD 2014
    • 発表場所
      Vilnius, Lithuania
    • 年月日
      2014-07-07 – 2014-07-11
    • 国際学会
  • [学会発表] Measurement of Nonlinear Dielectric Constants of PZT Thin Films used in Ferroelectric Probe Data Storage Technology2014

    • 著者名/発表者名
      Y. Hiranaga and Y. Cho
    • 学会等名
      2014 Joint IEEE ISAF-IWATMD-PFM
    • 発表場所
      PennState(State college), USA
    • 年月日
      2014-05-12 – 2014-05-16
    • 国際学会
  • [学会発表] Pyroelectric Detection of Spontaneous Polarization in Multiferroic La2NiMnO6 Thin Films2014

    • 著者名/発表者名
      Ryota Takahashi, Isao Ohkubo, Miho Kitamura, Masaharu Oshima, Yasuo Cho, Mikk Lippmaa
    • 学会等名
      2014 MRS Spring Meeting
    • 発表場所
      San Francisco, USA
    • 年月日
      2014-04-21 – 2014-04-25
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Charge Gradient Microscopy: A Method to Image Ferroelectric and Piezoelectric Domains2014

    • 著者名/発表者名
      Andreas Roelofs, Sheng Tong, Woon Ik Park, Yoshiomi Hiranaga, Yasuo Cho, Seungbum Hong
    • 学会等名
      2014 MRS Spring Meeting
    • 発表場所
      San Francisco, USA
    • 年月日
      2014-04-21 – 2014-04-25
    • 国際学会
  • [備考] 東北大学電気通信研究所誘電ナノデバイス研究室

    • URL

      http://www.d-nanodev.riec.tohoku.ac.jp/

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公開日: 2017-01-06  

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