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2012 年度 実績報告書

シリコンナノ構造を基盤としたドーパント原子デバイスの開発

研究課題

研究課題/領域番号 23226009
研究機関静岡大学

研究代表者

田部 道晴  静岡大学, 電子工学研究所, 教授 (80262799)

研究分担者 小野 行徳  富山大学, 理工学研究部, 教授 (80374073)
水田 博  北陸先端科学技術大学院大学, マテリアルサイエンス研究科, 教授 (90372458)
品田 賢宏  独立行政法人産業技術総合研究所, ナノエレクトロニクス研究部門, 研究員 (30329099)
研究期間 (年度) 2011-05-31 – 2016-03-31
キーワード電子デバイス・機器 / シングルドーパント / シリコン
研究概要

本研究計画は、個々のドーパント原子を利用したトンネル型原子デバイスの開発を目的とするものである。H24年度の主要な成果は以下のとおりである。
1.ドーパント原子MOSFET(田部): リンをドープしたスタブ型チャネルFETで、イオン化エネルギーが大きいリンドナーが存在し、これを介したトンネル電流ピークが100K以上で観測されることを見出した(PRB(2013))。従来の文献では、測定温度がせいぜい20Kどまりであり、この結果は室温動作へ向けた重要な一歩と考えられる。 2.第一原理計算(分担者水田、田部): スタブ型Si中のリン原子の状態密度を詳しく調べ、ドーピング位置が中央からスタブ領域に移動するほどディープレベル化することがわかった(PRB(2013))。実験事実と整合している。  3.ドーパント検出技術(田部): KFMを用いて、横型ナノpnダイオードのポテンシャル分布を測定した。その結果、空乏層領域はドーパントの充放電による電位の揺らぎが見られ、またディープ化ボロンの負帯電も観測された(APL(2013))。  4.フォトン検出デバイス(田部): 極薄SOIを用いた横型ナノpnダイオードのフォトン吸収効果を調べた。pin構造では生じない3レベルRTSが観測され、ボロンとリンの複合体への光励起電子トラップによるものと解釈された(APEX(2012))。  5.シングルドーパントイオン注入法(分担者品田):ドナー(P,As)が1次元に配列したデバイスを作製し、ドナー準位を介する量子輸送特性を観測した(Nature Nano(2012))。  6.近接ドーパントの相互作用と電子状態の解明(分担者小野):低温下における電子スピン共鳴法を用いたドーパント電荷の検出を目的として測定系を立ち上げ、リンおよびヒ素の信号を3Kにて明瞭に観測した。

現在までの達成度 (区分)
現在までの達成度 (区分)

1: 当初の計画以上に進展している

理由

本研究で扱う項目は、ドーパント原子デバイス、ドーパント高精度導入プロセス、ドーパント位置検出、第一原理計算と多岐にわたっているが、その中で最も中心となる項目は、ドーパント原子トランジスタであり、特にその最終目標である「ドーパント原子トランジスタの室温動作」に向けて、大きな一歩となるリンドナーのディープレベル化とそれに伴う100Kでの動作実証を当初計画よりも早期に得ることができた。このドーパントのディープレベル化は、チャネルの形状・サイズと理論的に関連しており、第一原理計算で得られた結果と、実験結果は整合している。
ナノpn接合についても、I-V特性における光誘起ランダムテレグラフシグナルやKFM電位に共通して見られる個別ドーパントの充放電現象を見出すとともに、特にKFMではボロンのディープレベル化によると思われる電位プロファイルを観測した。これも当初計画を超える成果であると考える。

今後の研究の推進方策

ドーパント原子MOSFETの研究を今後大きく進展させるために、これまでの準備段階で用いてきたランダム配置のドーピングから一歩踏み出し、チャネル中央部にEBマスクを用いて選択ドーピングを行う。選択ドーピングによって、数個の密集したリンドナー原子をドープし、それを「ディープな」量子井戸として利用することを試みる。現在まで進めてきた個別ドナー原子のディープレベル化量子井戸の利用と比較検討しながら進めていく。この実験に成功すれば、いよいよドーパントのランダム配置から脱した、制御型ドーパント原子トランジスタへと進めることができ、同時に高温化を目指すことができる。

  • 研究成果

    (37件)

すべて 2013 2012 その他

すべて 雑誌論文 (5件) (うち査読あり 5件) 学会発表 (31件) (うち招待講演 8件) 備考 (1件)

  • [雑誌論文] Electron-tunneling operation of single-donor-atom transistors at elevated temperatures2013

    • 著者名/発表者名
      E. Hamid
    • 雑誌名

      Physical Review B

      巻: 87 ページ: 085420-1-5

    • DOI

      10.1103/PhysRevB.87.085420

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Effects of deep-level dopants on the electronic potential of thin Si pn junctions observed by Kelvin probe force microscope2013

    • 著者名/発表者名
      R. Nowak
    • 雑誌名

      Applied Physics Letters

      巻: 102 ページ: 083109-1-4

    • DOI

      10.1063/1.4794406

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Electron filling in phosphorus donors embedded in silicon nanostructures observed by KFM technique2012

    • 著者名/発表者名
      R. Nowak
    • 雑誌名

      Journal of Advanced Research in Physics

      巻: 3 ページ: 021202-1-3

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Photon-Induced Random Telegraph Signal Due to Potential Fluctuation of a Single Donor–Acceptor Pair in Nanoscale Si p–n Junctions2012

    • 著者名/発表者名
      A. Udhiarto
    • 雑誌名

      Applied Physics Express

      巻: 5 ページ: 112201-1-3

    • DOI

      10.1143/APEX.5.112201

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Anderson-Mott transition in arrays of a few dopant atoms in a silicon trnsistor2012

    • 著者名/発表者名
      E. Prati
    • 雑誌名

      Nature Nanotechnology

      巻: 7 ページ: 443-447

    • DOI

      10.1038/nnano.2012.94

    • 査読あり
  • [学会発表] Dopantatoms in silicon Nanodevices

    • 著者名/発表者名
      D. Moraru
    • 学会等名
      2012 Energy Materials Nanotechnology Meeting (2012 EMN Meeting)
    • 発表場所
      Hilton Orlando at SeaWorld (USA)
    • 招待講演
  • [学会発表] Single-electron transport through a single donor at elevated temperatures

    • 著者名/発表者名
      E. Hamid
    • 学会等名
      2012 IEEE Silicon Nanoelectronics Workshop
    • 発表場所
      Hilton Hawaiian Village (USA)
  • [学会発表] Ab initio analysis of donor state deepening in Si nano-channels

    • 著者名/発表者名
      D. Moraru
    • 学会等名
      2012 IEEE Silicon Nanoelectronics Workshop
    • 発表場所
      Hilton Hawaiian Village (USA)
  • [学会発表] Observation of photovoltaic effect and single-photon detection in nanowire silicon pn-junction

    • 著者名/発表者名
      A. Udhiarto
    • 学会等名
      The International Conference on Nano Electronics Research Education (ICNERE 2012)
    • 発表場所
      The Magani Hotel (Indonesia)
  • [学会発表] Observation of Tunneling Effects in Lateral Nanowire pn Junctions

    • 著者名/発表者名
      S. Purwiyanti
    • 学会等名
      The International Conference on Nano Electronics Research Education (ICNERE 2012)
    • 発表場所
      The Magani Hotel (Indonesia)
  • [学会発表] シングルドーパントエレクトロニクス

    • 著者名/発表者名
      田部道晴
    • 学会等名
      島根大学招待講演
    • 発表場所
      島根大学(松江市)
    • 招待講演
  • [学会発表] Single dopant atom transistors: New era of electronics

    • 著者名/発表者名
      M. Tabe
    • 学会等名
      Inter-Academia 2012
    • 発表場所
      Hotel Ramada Plaza (Hungary)
    • 招待講演
  • [学会発表] Deep-energy phosphorus donor atoms in ultrathin-channel silicon transistors

    • 著者名/発表者名
      D. Moral
    • 学会等名
      Inter-Academia 2012
    • 発表場所
      Hotel Ramada Plaza (Hungary)
  • [学会発表] Characterization of nanoscale lateral pn junction by Kelvin probe force microscope

    • 著者名/発表者名
      R. Nowak
    • 学会等名
      Inter-Academia 2012
    • 発表場所
      Hotel Ramada Plaza (Hungary)
  • [学会発表] Kelvin probe force microscope observation of nanoscale pn junction depletion layer

    • 著者名/発表者名
      R. Nowak
    • 学会等名
      2012年 秋季 第73回応用物理学会学術講演会
    • 発表場所
      愛媛大学・松山大学(松山市)
  • [学会発表] シリコンナノpn接合の電子状態

    • 著者名/発表者名
      葛屋陽平
    • 学会等名
      2012年 秋季 第73回応用物理学会学術講演会
    • 発表場所
      愛媛大学・松山大学(松山市)
  • [学会発表] Photon detection by individual donor in lateral nanowire pn junction

    • 著者名/発表者名
      S. Purwiyanti
    • 学会等名
      2012年 秋季 第73回応用物理学会学術講演会
    • 発表場所
      愛媛大学・松山大学(松山市)
  • [学会発表] Ionization energy enhancement and high temperature operation of single-dopant transistors

    • 著者名/発表者名
      E. Hamid
    • 学会等名
      2012年 秋季 第73回応用物理学会学術講演会
    • 発表場所
      愛媛大学・松山大学(松山市)
  • [学会発表] Photoexcited-Electron Trapping by Individual Donor in Lateral Nanowire pn junction

    • 著者名/発表者名
      S. Purwiyanti
    • 学会等名
      2012 International Conforence on Solid State Devices and Materials (SSDM 2012)
    • 発表場所
      Kyoto International Conference Center(京都市)
  • [学会発表] Obdervation of Charging and Discharging Effects of Dopant Atoms in Nanoscale Lateral pn Junction by Kelvin Probe Force Microscopy

    • 著者名/発表者名
      R. Nowak
    • 学会等名
      2012 International Conforence on Solid State Devices and Materials (SSDM 2012)
    • 発表場所
      Kyoto International Conference Center(京都市)
  • [学会発表] Experimental and ab initio Study of Donor State Deepening in Nanoscale SOI-MOSFETs

    • 著者名/発表者名
      D. Moraru
    • 学会等名
      International Union of Materials Research Societies – International Conference on Electronic Materials 2012 (IUMRS-ICEM 2012)
    • 発表場所
      Pacifico Yokohama(横浜市)
  • [学会発表] Donor Ionization Energy and Electronic States in Si nano-FETs

    • 著者名/発表者名
      Y. Kuzuya
    • 学会等名
      2012 Korean-Japanese Students Workshop
    • 発表場所
      Pusan National University (Korea)
  • [学会発表] Dopant Atom Devices Based on Si Nanostructures

    • 著者名/発表者名
      M. Tabe
    • 学会等名
      The 14th Takayanagi Kenjiro Memorial Symposium
    • 発表場所
      Shizuoka Univ., Hamamatsu Campus(浜松市)
    • 招待講演
  • [学会発表] Observation of Charging and Discharging Effects of Dopant Atoms in Nanoscale Lateral p-n Junction by Kelvin Probe Force Microscope

    • 著者名/発表者名
      R. Nowak
    • 学会等名
      The 14th Takayanagi Kenjiro Memorial Symposium
    • 発表場所
      Shizuoka Univ., Hamamatsu Campus(浜松市)
  • [学会発表] Dopant-Based Single-Photon Detection in Lateral Nanowire p-n Junctions

    • 著者名/発表者名
      S. Purwiyanti
    • 学会等名
      The 14th Takayanagi Kenjiro Memorial Symposium
    • 発表場所
      Shizuoka Univ., Hamamatsu Campus(浜松市)
  • [学会発表] First-principles calculations of energy states of single Phosphorus donor in Silicon stub transistor

    • 著者名/発表者名
      L. T. Anh
    • 学会等名
      2012年度日本物理学会北陸支部定例学術講演会
    • 発表場所
      金沢大学(金沢市)
  • [学会発表] シリコンナノ構造を用いたドーパント原子デバイス

    • 著者名/発表者名
      田部道晴
    • 学会等名
      日本学術振興会半導体界面制御技術第154委員会第83回研究会
    • 発表場所
      キャンパス・イノベーションセンター(CIC)東京(東京都港区)
    • 招待講演
  • [学会発表] Effects of deep level dopants on the potential of thin Si pn junctions observed by Kelvin probe force microscope

    • 著者名/発表者名
      R. Nowak
    • 学会等名
      2013 International Workshop on Advanced Nanovision Science
    • 発表場所
      Shizuoka Univ., Hamamatsu Campus(浜松市)
  • [学会発表] Single dopant transistor – Toward room temperature operation

    • 著者名/発表者名
      D. Moraru
    • 学会等名
      ITRS Emerging Research Materials Workshop on Deterministic, conformal doping & monolayer doping
    • 発表場所
      Hotel Shattuck Plaza (USA)
    • 招待講演
  • [学会発表] ドーパント原子トランジスタの研究

    • 著者名/発表者名
      田部道晴
    • 学会等名
      文部科学省「テニュアトラック普及・定着事業(若手研究者の自立的研究環境整備促進)」若手グローバル研究リーダー育成プロプログラム成果報告会
    • 発表場所
      静岡大学 浜松キャンパス(浜松市)
    • 招待講演
  • [学会発表] シリコン横型ナノpn接合におけるドーパントの個別性

    • 著者名/発表者名
      スリ・プルウィヤンティ
    • 学会等名
      電子情報通信学会SDM/ED合同研究会
    • 発表場所
      北海道大学(札幌市)
  • [学会発表] 究極の小型スイッチ「原子トランジスタ」

    • 著者名/発表者名
      田部道晴
    • 学会等名
      サイエンスカフェin静岡(招待講演)
    • 発表場所
      B-nest静岡市産学交流センター(静岡市)
    • 招待講演
  • [学会発表] Influence of deep energy dopants on the electronic potential distribution of two-dimensional pn junctions measured by Kelvin probe force microscope

    • 著者名/発表者名
      R. Nowak
    • 学会等名
      2013年 第60回応用物理学会春季学術講演会
    • 発表場所
      神奈川工科大学(厚木市)
  • [学会発表] Trapping and Detrapping of Carriers by Individual Dopants in Lateral Nanoscale p-n Junctions

    • 著者名/発表者名
      S. Purwiyanti
    • 学会等名
      2013年 第60回応用物理学会春季学術講演会
    • 発表場所
      神奈川工科大学(厚木市)
  • [学会発表] Persistence of single-donor effect up to room temperature in SOI-MOSFETs

    • 著者名/発表者名
      A. Samanta
    • 学会等名
      2013年 第60回応用物理学会春季学術講演会
    • 発表場所
      神奈川工科大学(厚木市)
  • [学会発表] Single-electron switching in a triple-donor-atom system in nanoscale SOI-FETs

    • 著者名/発表者名
      D. Moraru
    • 学会等名
      2013年 第60回応用物理学会春季学術講演会
    • 発表場所
      神奈川工科大学(厚木市)
  • [備考] 静岡大学 田部研究室

    • URL

      http://www.rie.shizuoka.ac.jp/~nanohome/

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公開日: 2014-07-24  

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