素子特性ばらつきの統計性に基づく微弱信号検出の線形性改善方法とその実現方式の探究

研究成果発表報告書

• 研究課題/領域番号: 23360155
• 研究種目: 基盤研究(B)
• 配分区分: 補助金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: 電子デバイス・電子機器
• 研究機関: 大阪大学
• 研究代表者: 松岡 俊匡 大阪大学, 工学(系)研究科(研究院), 准教授 (80324820)
• 研究期間 (年度): 2011-04-01 – 2014-03-31

研究成果

• [雑誌論文] An offset distribution modification technique of stochastic flash ADC (2016)
  • 著者名/発表者名: T. Asano, Y. Hirai, S. Tani, S. Yano, I. Jo, and T. Matsuoka
  • 雑誌名: IEICE Electronics Express 巻: 13 ページ: 20160115
  • DOI: 10.1587/elex.13.20160115
  • 査読あり
• [雑誌論文] A Delta-Sigma ADC with Stochastic Quantization (2015)
  • 著者名/発表者名: Y. Hirai, S. Yano, and T. Matsuoka
  • 雑誌名: IPSJ Trans. System LSI Design Methodology 巻: 8 ページ: 123-130
  • DOI: 10.2197/ipsjtsldm.8.123
  • 査読あり
• [学会発表] 並列型確率的A/D変換器の線形性向上手法に関する研究 (2015)
  • 著者名/発表者名: 浅野智大, 平井雄作, 谷貞宏, 矢野新也, 趙益均, 松岡俊匡
  • 学会等名: 平成27年電気関係学会関西連合大会
  • 発表場所: 摂南大学(大阪)
  • 年月日: 2015-11-14 – 2015-11-15
• [学会発表] Extra Loop Delay Compensation for Hybrid Delta-Sigma Modulators (2014)
  • 著者名/発表者名: Y. Hirai, K. Ohara, and T. Matsuoka
  • 学会等名: IEEE International Symposium on Circuits and Systems
  • 発表場所: Melbourne(Australia)
  • 年月日: 2014-06-01 – 2014-06-05
• [産業財産権] Δ∑A/D変換装置 (2013)
  • 発明者名: 松岡俊匡, 平井雄作
  • 権利者名: 株式会社半導体理工学研究センター
  • 産業財産権種類: 特許
  • 産業財産権番号: 特許第5758434号
  • 出願年月日: 2013-05-08
  • 取得年月日: 2015-06-12