集積回路の市場不良率を高精度に見積もるための手法として,レイアウト情報を用いた故障カバレージの算出法について研究を進めている.25年度はISCAS89ベンチマーク回路のうち27個の回路について以下の条件でレイアウト設計を実行した:配置の使用率70%,クロック優先配線,Via冗長化.得られたレイアウト情報からオープン故障およびブリッジ故障についてクリティカルエリア(CA)を求めた.更に,配線のダブルビアには故障が生じないとみなし,配線毎のシングルビアの個数を求めた.これに基づき重み付き故障カバレージを求め,同じテストパターンに対して故障カバレージが改善されることを示した.よりテストコストの低いテストパターンの作成につながる. CAは欠陥の粒径に依存し,小さい粒径の欠陥ほど発生しやすいことが知られている.本研究では,2個程度の粒径に対してCAを求めることにより,欠陥の発生確率を考慮したCAを求めることができることを示した. CAの正確な値を求めるためにはレイアウト情報が必要であるが,設計のより早い段階,すなわちネットリストの段階である程度のCAを推定できれば,テストパターン設計が容易になる可能性がある.本研究では,ゲートのファンアウトが大きいほどCAが大きくなる傾向があることを示した.入出力ポートからの最大/最小段数および到達可能な入出力ポート数についてはCAとの相関は見られなかった.ゲートのファンアウト数に基づきCAを推定し,より大きなCAを持つノードを対象故障とすることにより,より迅速なテストパターン設計か可能となる.
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