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本研究では，一時的な故障（過渡故障）に耐性を持つディジタルシステムの高位合成法を提案する．近年の半導体技術の発展による微細化のために，複数サイクル継続するソフトエラーの発生が懸念されている．本研究ではそのようなエラーの原因をマルチサイクル過渡故障としてモデル化し，それに耐性を持つシステムの合成法の提案を目指している．最終年度の平成25年度では，主に２つの課題に取り組み，成果を得た．
(1) 誤り訂正・誤り検出可能なデータパスを指向したスケジューリングアルゴリズム：前年度に提案した「誤り訂正可能なデータパスを指向したスケジューリングアルゴリズム」をもとに，k_c サイクル故障による誤りを訂正するとともに，k_d サイクル故障による誤りを検出することを可能とするデータパスの合成において，リソース（演算器数）を最小にするためのスケジューリングアルゴリズムを提案した．
(2) 誤り訂正・誤り検出可能なコントローラの設計法：k_c サイクル故障訂正可能・k_d サイクル検出可能なコントローラの設計法を提案した．データパス部の耐過渡故障性（誤り訂正機構，誤り検出機構）を活用することで，コントローラ部の耐故障化のためのオーバーヘッドを最小化するものである．
これらの手法は，先に提案したバインディングアルゴリズムと組み合わせることで，単純な３重化システムよりずっと小さいリソースで耐マルチサイクル過渡故障システムが実現できる．
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