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大規模集積回路 (LSI) の微細化により，ソフトエラー (放射線衝突による一時的な誤り) の発生が無視できなくなっている．本研究では，LSI システムに発生するソフトエラーのような過渡故障に耐性を持つ (内部の誤りを外に出さない) システムの合成法を提案する．
提案法は，動作記述を入力として，一定時間継続する過渡故障に耐性を持つレジスタ転送レベル回路を出力する．出力される回路は機能的に3重化されている．データパス部では3つのユニット間で適切に演算器を共有し，さらに，その過渡故障耐性を利用してコントローラ部も耐過渡故障化させる．従来の一般的な耐故障設計法に比べてより小さい面積で実現可能である．
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