2013 年度研究成果報告書

間欠動作型故障検出システムを用いたアナログ混載ＬＳＩの高信頼化

研究課題

研究課題/領域番号	23500067
研究種目	基盤研究(C)
配分区分	基金
応募区分	一般
研究分野	計算機システム・ネットワーク
研究機関	高知工科大学
研究代表者	橘昌良高知工科大学, 工学部, 教授 (50171715)
研究期間 (年度)	2011 – 2013
キーワード	ディペンダブルコンピューティング / Analog Mixed-Signal
研究概要	アナログ回路を混載したシステムＬＳＩのアナログ回路部分の故障検出をＬＳＩの製造製造工程からシステムの動作時までいつでも行うことの出来る機構の開発を主たる目的として研究をおこなった。このようなシステムで多用されるアナログ／デジタル変換器をモチーフとして、その構成要素であるＲ－２Ｒラダー回路、サンプル／ホールド回路およびオペアンプ回路に関して、回路のインパルス応答に基づいた致命的な故障（回路素子の開放／短絡故障）の検出が出来る故障検出システムの開発を行い、回路シミュレーションと実チップによる試作／測定の結果、回路素子の開放／短絡故障に関しては約８６～９６％を検出できることを確認した。