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ナノスケール物質評価方法として期待される、局所光電子分光や局所光反射特性評価の実現のための基礎研究を行った。局所領域での検出感度を増強するためにトンネル顕微鏡（STM）における、基板貴金属とSTM探針の間のトンネルギャップをナノスケールキャビティとして用いた。ここにおける種々の電磁場の増強を利用して、第一にナノスケール局所領域からの光励起電子電流をSTM探針により検出し、その電流の特性を評価した。第二に局所光反射率変化の測定を行うために通常のSPR装置とSTM装置を結合した装置製作を行い、STM探針効果による反射率変化をシミュレーションし、ナノスケール測定が実現できることを示した。
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