研究課題
基盤研究(C)
放射光X線を用いた物性研究において、X線検光子は強相関物性の研究や磁性研究等に大いに有用である。しかし、これまで主に用いられてきたX線検光子には、1) 使用可能な波長領域が限られている、2) 円偏光に対する感度が無い、という問題点があった。そこでこの問題を解決するために、X線多波回折を利用した検光子(MBD検光子)の開発・改良を行った。さらに、その基本原理を応用して偏光制御斜入射X線トポグラフィーを開発し、エピタキシャル4H-SiC結晶表面近傍の欠陥や歪み場の観察を行った。
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