本研究はAl-NクラスターをInGaZnO4にドープすることによりp型InGaZnO4を得ることを目的としている。InGaZnO4とAlNの混合紛体をターゲットとし、スパッタリング法により薄膜を作製した。高真空2x10-3 Torrではp型薄膜は得られなかった。これに対して低い真空2x10-2 Torrでは、7% AlNターゲットで0.6% O2では500 MΩの抵抗を示すp型InGaZnO4薄膜が得られた。このp型InGaZnO4薄膜の抵抗率210Ωcm、正孔の濃度7.5×1017 cm-3 易動度0.4 cm2/Vsを得た。InGaZnO4のpn接合は明確な整流特性を示した。
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