走査型位相計測電子顕微鏡法の開発と電池内電位動的観察への応用

2013 年度 研究成果報告書

• 研究課題/領域番号: 23560031
• 研究種目: 基盤研究(C)
• 配分区分: 基金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: 薄膜・表面界面物性
• 研究機関: 独立行政法人物質・材料研究機構
• 研究代表者: 竹口 雅樹 独立行政法人物質・材料研究機構, その他部局等, 電子顕微鏡ステーション・ステーション長 (30354327)
• 研究期間 (年度): 2011 – 2013
• キーワード: 電子線ホログラフィー / 試料走査 / 位相計測

研究概要

走査位相計測電子顕微鏡法を開発した。高感度CCDカメラを用いて、バイプリズムを用いて形成された干渉縞の1次元強度プロファイルを、その垂直方向への1回の試料走査と連動させて取得し、コンピュータ構築処理することで、2次元位相マップを高速に得ることが出来た。縞走査法と同様に干渉縞間隔以下の空間分解能(超解像度)の位相像取得が可能となった。

研究成果

• [雑誌論文] Super- resolution phase reconstruction technique in electron holography with a stage-scanning system (2014)
  • 著者名/発表者名: Dan Lei, Kazutaka Mitsuishi, Ken Harada, Masayuki Shimojo, Dongying Ju and Masaki Takeguchi
  • 雑誌名: Japanese Journal of Applied Physics 巻: 53 ページ: 02BC23
  • DOI: 10.7567/JJAP.53.02BC23
  • 査読あり
• [雑誌論文] Direct acquisition of interferogram by stage scanning in electron interferometry (2013)
  • 著者名/発表者名: Dan Lei, Kazutaka Mitsuishi, Ken Harada, Masayuki Shimojo, Dongying Ju and Masaki Takeguchi
  • 雑誌名: Microscopy 巻: 62巻 ページ: 563-570
  • DOI: 10.1093/jmicro/dft32
  • 査読あり
• [学会発表] Super-resolution phase reconstruction in stage-scanning electron holography (2013)
  • 著者名/発表者名: Dan Lei、三石和貴、原田研、下条雅幸、巨東英、竹口雅樹
  • 学会等名: EM-Nano 2013
  • 発表場所: 石川音楽堂,金沢市
  • 年月日: 20130617-20
• [学会発表] Direct phase acquisition in electron holography with a stage-scanning system (2012)
  • 著者名/発表者名: Dan Lei、三石和貴、原田研、下条雅幸、巨東英、竹口雅樹
  • 学会等名: 日本金属学会2012秋期大会
  • 発表場所: 愛媛大学
  • 年月日: 20120917-19
• [学会発表] 試料走査電子線ホログラフィー法によるMgO結晶の観察 (2012)
  • 著者名/発表者名: Dan Lei、三石和貴、原田研、下条雅幸、巨東英、竹口雅樹
  • 学会等名: 日本顕微鏡学会第68回学術講演会
  • 発表場所: つくば国際会議場,つくば
  • 年月日: 20120514-16
• [学会発表] Development of sample-scanning electron holography (2011)
  • 著者名/発表者名: Masaki Takeguchi, Kazutaka Mitsuishi, Dan Lei,Masayuki Shimojo
  • 学会等名: Microcsopy and Microanalysis 2011
  • 発表場所: Nashville Convention Center,Tennessee
  • 年月日: 2011-08-09
• [学会発表] Electron holography combined with a stage-scanning system (2011)
  • 著者名/発表者名: Masaki Takeguchi, Kazutaka Mitsuishi, Dan Lei,Masayuki Shimojo
  • 学会等名: 5th International Union of Microbeam Analysis Society(IUMAS-V)
  • 発表場所: Seoul Olympic Parktel, Seoul
  • 年月日: 2011-05-25
  • 招待講演
• [学会発表] 試料走査電子線ホログラフィーの開発 (2011)
  • 著者名/発表者名: 竹口雅樹、三石和貴、Dan Lei、下条雅幸
  • 学会等名: 日本顕微鏡学会第67回学術講演会
  • 発表場所: 福岡国際会議場
  • 年月日: 2011-05-16
• [産業財産権] 透過型電子顕微鏡及び電子線干渉法 (2012)
  • 発明者名: 竹口雅樹/三石和貴/原田研
  • 権利者名: 物質・材料研究機構
  • 産業財産権種類: 特許権特開2013-229244
  • 公開番号: 特開2013-229244
  • 出願年月日: 2012-04-26
  • 外国