研究課題
基盤研究(C)
本研究では、光学バンドパスフィルタと高速度カメラとの組み合わせによって、異なる波長の画像として、アーク放電発生中の接点表面とアーク放電とを同時に撮影する手法を提案した。その手法を用いて、接点表面状態の変化とアーク放電の移動特性との関係から、接点表面上の痕跡の形成過程を調べた。その結果、電気接点の表面上に残された痕跡が、アーク放電発生中のどの時間帯に形成されたものなのかを示すことができた。
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IEICE Trans. Electron
巻: Vol.E97-C ページ: 592-598
電子情報通信学会、和文論文誌C
巻: Vol. J96-C ページ: 167-173
巻: Vol. E95-C ページ: 1527-1530