研究課題
基盤研究(C)
本研究ではチャネル材料にInAsを用いたIII-V族MOSFETを作製しその諸特性を評価した.MOSFETの特性を向上させるために,オーミックコンタクトや高誘電率材料High-k/GaSb界面に着目して研究を行った.オーミックコンタクトでは,形成する電極の材料,膜厚の検討を行い,更に熱処理の温度条件を求めることで,低抵抗なコンタクト抵抗を実現した.High-k/GaSb界面については,溶液処理を用いることでGaSb表面の自然酸化膜を除去し界面準位密度を低減した.また,バンドギャップの大きな酸化ガリウムを挿入することでMOS界面の欠陥の発生を抑制し,MOSFETの特性が改善されることを見出した.
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電子情報通信学会誌
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材料
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Proceedings of the 2012 International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai
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Proceedings of the 2012 International Meeting for Future of Electron Devices Kansai
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