物性マップ機能を有する溶接中ナノダイナミクス高速顕微鏡法の開発

2012 年度 研究成果報告書

• 研究課題/領域番号: 23651096
• 研究種目: 挑戦的萌芽研究
• 配分区分: 基金
• 研究分野: ナノ構造科学
• 研究機関: 大阪大学
• 研究代表者: 李 艶君 大阪大学, 大学院・工学研究科, 准教授 (50379137)
• 研究期間 (年度): 2011 – 2012
• キーワード: マルチ高速原子間力顕微鏡 / 物性マップ / 固液界面

研究概要

本研究では、物性マップをナノ解像で得ることのできる「マルチ高速 AFM」を開発することをめざす。具体的には、AFMの高感度化を実現するとともに、高速・高感度な物性測定法を開発し、この装置がタンパク質分子の機能解明のための強力な最先端の計測機器であることを実証することをめざす。

研究成果

• [雑誌論文] The stray capacitance effect in Kelvin probe force microscopy using FM, AM and heterodyne AM modes (2013)
  • 著者名/発表者名: Z. Ma, L. Kou, Y. Naitoh, Y. J. Li and Y. Sugawara
  • 雑誌名: Nanotechnol. 巻: 24 ページ: 225701(1-8)
  • DOI: DOI:10.1088/0957-4484/24/22/225701.
  • 査読あり
• [雑誌論文] Complex Design of Dissipation Signals in Non-Contact Atomic Force Microscopy (2012)
  • 著者名/発表者名: Y. J. Li, S. Jarvis, Y. Naitoh, Y. Sugawara, and L. Kantorovich
  • 雑誌名: J. Bamidele, Phys. Chem. Chem. Phys. 巻: 14 ページ: 16250-16257
  • DOI: DOI:10.1039/c2cp43121.
  • 査読あり
• [雑誌論文] Quantification of atomic-scale elasticity on Ge(001)-c(4×2) surfaces via noncontact atomic force microscopy with a tungsten-coated tip (2012)
  • 著者名/発表者名: Y. Naitoh, T. Kamijo, Y. J. Li and Y. Sugawara
  • 雑誌名: Phys. Rev. Lett. 巻: 109 ページ: 215501(1-5)
  • DOI: DOI:10.1103/PhysRevLett.109.215501.
  • 査読あり
• [雑誌論文] Chemical tip fingerprinting in scanning probe microscopy of an oxidized Cu(110) surface (2012)
  • 著者名/発表者名: J. Bamidele, Y. Kinoshita, R. Turansky, S. H. Lee, Y. Naitoh, Y. J. Li, Y. Sugawara, I. stich, and L. Kantorovich
  • 雑誌名: Phys. Rev. B 巻: 86 ページ: 155422(1-8)
  • DOI: DOI:10.1103/PhysRevB.86.155422.
  • 査読あり
• [雑誌論文] High potential sensitivity in heterodyne amplitude modulation Kelvin probe force microscopy (2012)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugawara, L. Kou, Z. Ma, T. Kamijo, Y. Naitoh, and Y. J. Li
  • 雑誌名: Appl. Phys. Lett 巻: 100 ページ: 223104(1-4)
  • DOI: DOI:10.1063/1.4723697.
  • 査読あり
• [雑誌論文] Force Mapping on NaCl(100)/Cu(111) Surface by Atomic Force Microscopy at 78 K (2012)
  • 著者名/発表者名: Y. J. Li, K. Tenjin, Y. Kinoshita, Z. Ma, L. Kou, Y. Naitoh, M. Kageshima and Y. Sugawara
  • 雑誌名: Jpn. J. Appl. Phys. 巻: 51 ページ: 035201(1-5)
  • DOI: DOI:10.1143/JJAP.51.035201.
  • 査読あり
• [雑誌論文] Fabrication of Sharp Tungsten-coated Tip for Atomic Force Microscopy by Ion-beam Sputter deposition (2011)
  • 著者名/発表者名: Y. Kinoshita, Y. Naitoh, Y. J. Li, andY. Sugawara
  • 雑誌名: Rev. Sci. Instrum 巻: 82 ページ: 113707(1-5)
  • DOI: DOI:10.1143/JJAP.51.035201.
  • 査読あり
• [雑誌論文] Switching surface polarization of atomic force microscopy probe utilizing photoisomerization of photochromic molecules (2011)
  • 著者名/発表者名: Y. Aburaya, H. Nomura, M. Kageshima, Y.Naitoh, Y. J. Li and Y. Sugawara
  • 雑誌名: J. Appl. Phys 巻: 109 ページ: 064308(1-8)
  • DOI: DOI:10.1063/1.3552926.
  • 査読あり
• [学会発表] AFM による Al2O3 薄膜表面での配位数の異なる Al 原子の識別 (2013)
  • 著者名/発表者名: 李艶君
  • 発表場所: 大阪大学(吹田キャンパス)
  • 年月日: 2013-01-23
• [学会発表] Identification of Aluminum Atoms with Different Coordination on Al2O3/NiAl(110) Surface by NC-AFM with a stiff Si tip (2012)
  • 著者名/発表者名: Y. J. Li and Yeek Energy Materials Nanotec. Sugawara
  • 学会等名: 2012 EMN Open Access W hnology
  • 発表場所: Chengdu, China
  • 年月日: 20121023-26
• [学会発表] Identification of Al Atoms with Different Coordination on Al2O3/NiAl(110) Surface with NC-AFM (2012)
  • 著者名/発表者名: Y. J. Li, S. Oozawa, Y. Naitoh and Y. Sugawara,.
  • 学会等名: The 10-th Japan-Russia Seminar on Semiconductor Surfaces
  • 発表場所: University of Tokyo, Japan
  • 年月日: 20120928-30
• [学会発表] Atom Manipulation and Force Spectroscopy on Cu(110)-O Surface with Low-Temperature AFM (2012)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugawara and Y. J. Li
  • 学会等名: Annual Meeting of The Chinese Vacuum Society (CVS-2012)
  • 発表場所: Lanzhou, China
  • 年月日: 20120921-24
• [学会発表] Atomic Scale Surface Potential measurement on TiO2(110) Surface with Kelvin Probe Force Microscopy Using Ir-tip (2012)
  • 著者名/発表者名: Y. J. Li, T. Kamijo, L. L. Kou, Z. M. Ma, Y. Naitoh, and Y. Sugawara
  • 学会等名: International Conference on Nanoscience & Technology (ICN+T 2012)
  • 発表場所: Paris, France
  • 年月日: 20120723-27
• [学会発表] Identification of Al Atoms with Different Coordination on Al2O3/NiAl(110) Surface with NC-AFM (2012)
  • 著者名/発表者名: Y. J. Li, O. Shuhei, Y. Naitoh and Y. Sugawara
  • 学会等名: NC-AFM 2012
  • 発表場所: Cesky Krumlov, Czech Republic
  • 年月日: 20120702-06
• [学会発表] Stable Contrast Mode on TiO2 (110) Surface using AFM with Tungsten-coated Tips (2011)
  • 著者名/発表者名: Y. J. Li, Y. Tsukuda, Y. Naitoh and Y.Sugawara
  • 学会等名: 14th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy 2011
  • 発表場所: Lindau, Germany
  • 年月日: 20110918-22
• [学会発表] Tip-induced heating of Co atoms on Cu (110)-O surface with low-temperature AFM (2011)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugawara, Y. Kinoshita, Y. Naitoh, and Y. J. Li
  • 学会等名: 14th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy 2011
  • 発表場所: Lindau, Germany
  • 年月日: 20110918-22
• [学会発表] Atom Manipulation and Force Spectroscopy on Cu(110)-O Surface with LowTemperature Noncontact AFM (2011)
  • 著者名/発表者名: Y. J. Li and Y. Sugawara
  • 学会等名: International Symposium on Test and Measurement (ISTM)
  • 発表場所: Suzhou, China
  • 年月日: 20110804-07
• [学会発表] 低温 NC-AFM を用いた Cu(110)-O表面での原子操作と 2 次元フォース分光 (2011)
  • 著者名/発表者名: 李艶君
  • 学会等名: SPM 研究会
  • 発表場所: 豊田中央研究所
  • 年月日: 2011-12-02
• [図書] プローブ顕微鏡用高速アクチュエータの開発 (2011)
  • 著者名/発表者名: 菅原康弘、李艶君、内藤賀公
  • 総ページ数: 131-135
  • 出版者: エヌ・ティー・エヌ、新アクチュエータ開発の最前線
• [備考]
  • URL: http://nanophysics.ap.eng.osaka-u.ac.jp/