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2012 年度 研究成果報告書

試料表面近傍で直流磁場の方向と強度を計測する高分解能・近接場磁気力顕微鏡の開発

研究課題

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研究課題/領域番号 23656026
研究種目

挑戦的萌芽研究

配分区分基金
研究分野 薄膜・表面界面物性
研究機関秋田大学

研究代表者

齊藤 準  秋田大学, 工学資源学研究科, 教授 (00270843)

連携研究者 吉村 哲  秋田大学, 工学資源学研究科, 准教授 (40419429)
木下 幸則  秋田大学, ベンチャービジネスラボラトリー, 特任助教 (10635501)
研究期間 (年度) 2011 – 2012
キーワード磁気力顕微鏡 / 表面磁場 / 高分解能 / 磁場極性計測 / 磁場強度計測
研究概要

非接触原子間力顕微鏡の一形態である磁気力顕微鏡を用いて、これまで前例のない、試料表面近傍で直流磁場を計測する手法を確立し、直流磁場の方向と強度を同時計測できる高分解能・近接場磁気力顕微鏡を開発した.探針試料間距離の低減により、従来の磁気力顕微鏡と比較して、磁場信号の強度が一桁以上向上し、空間分解能が最大で6 nm 程度に大幅に向上した。本顕微手法を高密度磁気記録媒体等のナノスケール磁区構造解析に適用し、これら材料の評価に有用であることを示した.

  • 研究成果

    (25件)

すべて 2013 2012 2011

すべて 雑誌論文 (3件) (うち査読あり 3件) 学会発表 (14件) 産業財産権 (8件) (うち外国 5件)

  • [雑誌論文] Alternating electric force microscopy: static electric field gradient imaging in an air atmosphere for Ba07Sr0.3TiO3 ferroelectric thin film2012

    • 著者名/発表者名
      J. Lu, Y. Kinoshita, G. Egawa, S. Yoshimura, H. Asano and H. Saito
    • 雑誌名

      Journal of Applied Physics

      巻: Vol.112 ページ: 124110(5)

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Direction detectable static magnetic field imaging by frequencymodulated magnetic force microscopy with an AC magnetic field driven soft magnetic tip2011

    • 著者名/発表者名
      H. Saito, R. Ito, G. Egawa, Z. Li, and S. Yoshimura
    • 雑誌名

      Journal of Applied Physics

      巻: Vol. 109 ページ: 07D334(3)

    • 査読あり
  • [雑誌論文] MFM analysis of magnetic inhomogeneity in recorded area for perpendicular magnetic recording media by simultaneous imaging of perpendicularand in-plane magnetic field gradient2011

    • 著者名/発表者名
      S. Yoshimura, G. Egawa, T.Miyazawa, Z. Li, H. Saito, J. Bai, and G. Li
    • 雑誌名

      Journal of Physics: Conference Series

      巻: Vol. 266 ページ: 012065(5)

    • 査読あり
  • [学会発表] ベクトル磁場検出・高分解能・近接場磁気力顕微鏡の 開発とその高密度磁気記録デバイスへの応用2013

    • 著者名/発表者名
      齊藤 準
    • 学会等名
      ナノプローブテクノロジー第167 委員会 第69回研究会
    • 発表場所
      東京大学(東京)
    • 年月日
      2013-01-10
  • [学会発表] 高飽和磁化Fe-Co 探針を用いた近接場磁気力顕微鏡における静磁場イメージングの高分解能化2012

    • 著者名/発表者名
      岡安 慎介, 伊藤 亮一,江川 元太,吉村 哲,齊藤 準
    • 学会等名
      平成24 年度スピニクス特別研究会
    • 発表場所
      秋田大学(秋田)
    • 年月日
      2012-11-26
  • [学会発表] ベクトル磁場検出・近接場磁気力顕微鏡の開発とその磁性材料・磁気デバイスへの応用2012

    • 著者名/発表者名
      齊藤 準
    • 学会等名
      日本磁気学会第186回研究会
    • 発表場所
      中央大学(東京)
    • 年月日
      2012-11-02
  • [学会発表] Development of alternating magnetic force microscopy for detecting vector magnetic field near sample surface with high spatial resolution2012

    • 著者名/発表者名
      H. Saito
    • 学会等名
      ICAUMS 2012
    • 発表場所
      奈良県新公会堂(奈良)
    • 年月日
      2012-10-04
  • [学会発表] Improvement of spatial resolution by Fe-Co tip with high saturation magnetization for Near-field magnetic force microscopy (NF-MFM)2012

    • 著者名/発表者名
      S. Okayasu, R. Ito, G. Egawa, Y. Kinoshita, S. Yoshimura, and H. Saito
    • 学会等名
      ICAUMS 2012
    • 発表場所
      奈良県新公会堂(奈良)
    • 年月日
      2012-10-02
  • [学会発表] Alternating magnetic force microscopy: direction detectable imaging of static and alternating magnetic field with high spatial resolution2012

    • 著者名/発表者名
      H. Saito, R. Ito, K. Hatakeyama, Z. Li, G. Egawa and S. Yoshimura
    • 学会等名
      ICM 2012
    • 発表場所
      Busan, Korea
    • 年月日
      2012-07-12
  • [学会発表] High resolution magnetic field imaging by near-field magnetic force microscopy (NF-MFM) for high density magnetic recording media2012

    • 著者名/発表者名
      H. Saito, R. Ito, Z. Li, G. Egawa and S. Yoshimura
    • 学会等名
      INTERMAG 2012
    • 発表場所
      Vancouver, Canada
    • 年月日
      2012-05-08
  • [学会発表] 近接場・磁気力顕微鏡によるベクトル磁場イメージング2012

    • 著者名/発表者名
      伊藤 亮一,李 正.,江川 元太,吉村 哲, 齊藤 準
    • 学会等名
      春季 第59回応用物理学関係連合講演会(応物)
    • 発表場所
      早稲田大学 (東京)
    • 年月日
      2012-03-16
  • [学会発表] Vector analysis of static magnetic field by adjusting measuring axis for Near-field magnetic force microscopy2011

    • 著者名/発表者名
      H. Saito, Z. Li, R. Ito, G. Egawa and S. Yoshimura
    • 学会等名
      THE 56th MMM CONFERENCE
    • 発表場所
      Scottsdale, Arizona, USA
    • 年月日
      2011-11-01
  • [学会発表] 近接場磁気力顕微鏡による高分解能・静磁場イメージング2011

    • 著者名/発表者名
      伊藤 亮一,李 正.,江川 元太,吉村 哲, 齊藤 準
    • 学会等名
      第35回日本磁気学会学術講演会
    • 発表場所
      新潟コンベンションセンター (新潟)
    • 年月日
      2011-09-27
  • [学会発表] 近接場磁気力顕微鏡による静磁場のベクトル解析2011

    • 著者名/発表者名
      齊藤 準,李 正.,伊藤 亮一,江川 元太, 吉村 哲
    • 学会等名
      第35回日本磁気学会学術講演会
    • 発表場所
      新潟コンベンションセンター (新潟)
    • 年月日
      2011-09-27
  • [学会発表] 近接場・磁気力顕微鏡による試料表面近傍での直流磁場観察2011

    • 著者名/発表者名
      伊藤 亮一, 江川 元太, 李 正., 吉村 哲, 齊藤 準
    • 学会等名
      秋季 第72回応用物理学会学術講演会(応物)
    • 発表場所
      山形大学 (山形)
    • 年月日
      2011-08-30
  • [学会発表] Development of Near-field Electric Force Microscopy for DC Electric Field Measurement near Sample Surface2011

    • 著者名/発表者名
      芦 佳,江川 元太,吉村 哲,浅野 秀文, 齊藤 準
    • 学会等名
      秋季 第72回応用物理学会学術講演会(応物)
    • 発表場所
      山形大学 (山形)
    • 年月日
      2011-08-30
  • [学会発表] A new magnetic force microscopy for static magnetic field imaging near asample surface by using a frequency modulation in cantilever oscillation with an alternating magnetic field driven soft magnetic tip2011

    • 著者名/発表者名
      H. Saito, R. Ito, G. Egawa, Z. Li, S. Yoshimura
    • 学会等名
      INTERMAG 2011
    • 発表場所
      Taipei, Taiwan
    • 年月日
      2011-04-27
  • [産業財産権] 磁性微粒子の磁気特性評価装置および磁気特性評価方法2013

    • 発明者名
      齊藤 準、吉村 哲、木下 幸則
    • 権利者名
      秋田大学
    • 産業財産権番号
      特願 2013-004025
    • 出願年月日
      2013-01-11
  • [産業財産権] 磁場値測定装置および磁場値測定方法2013

    • 発明者名
      齊藤 準、吉村 哲、木下 幸則、野村 光,中谷 亮一
    • 権利者名
      秋田大学、大阪大学
    • 産業財産権番号
      特願 2013-069762
    • 出願年月日
      2013-03-28
  • [産業財産権] MAGNETIC FIELD OBSERVATION DEVICE AND MAGNETIC FIELD OBSERVATION METHOD (磁場観察装置及び磁場観察方法)2013

    • 発明者名
      齊藤 準、吉村 哲
    • 権利者名
      秋田大学
    • 産業財産権番号
      特許(米国) US 13/819,486
    • 出願年月日
      2013-02-27
    • 外国
  • [産業財産権] MAGNETIC FIELD OBSERVATION DEVICE AND MAGNETIC FIELD OBSERVATION METHOD (磁場観察装置及び磁場観察方法)2013

    • 発明者名
      齊藤 準、吉村 哲
    • 権利者名
      秋田大学
    • 産業財産権番号
      特許(欧州)EPC 11821984.9
    • 出願年月日
      2013-03-12
    • 外国
  • [産業財産権] 磁気プロファイル測定装置および磁気プロファイル測定方法2012

    • 発明者名
      齊藤 準、吉村 哲
    • 権利者名
      秋田大学
    • 産業財産権番号
      特許PCT/JP2012/074599
    • 出願年月日
      2012-09-25
    • 外国
  • [産業財産権] 磁気プロファイル測定装置および磁気プロファイル測定方法2012

    • 発明者名
      齊藤 準、吉村 哲
    • 権利者名
      秋田大学
    • 産業財産権番号
      特許PCT/JP2012/074600
    • 出願年月日
      2012-09-25
    • 外国
  • [産業財産権] 磁場観察装置及び磁場観察方法2011

    • 発明者名
      齊藤 準、吉村 哲
    • 権利者名
      秋田大学
    • 産業財産権番号
      特許 PCT/JP2011/070146
    • 出願年月日
      2011-09-05
    • 外国
  • [産業財産権] 磁場観察装置及び磁場観察方法2011

    • 発明者名
      齊藤 準、吉村 哲
    • 権利者名
      秋田大学
    • 産業財産権番号
      特許第4769918 号
    • 出願年月日
      2011-07-01

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公開日: 2014-09-25   更新日: 2015-11-04  

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