2011 年度研究成果報告書

X線熱散漫散乱による表面フォノン分散の検出

研究課題

研究課題/領域番号	23656038
研究種目	挑戦的萌芽研究
配分区分	基金
研究分野	薄膜・表面界面物性
研究機関	財団法人高輝度光科学研究センター
研究代表者	田尻寛男財団法人高輝度光科学研究センター, 利用研究促進部門, 研究員 (70360831)
研究期間 (年度)	2011
キーワード	表面フォノン / X線散乱 / ビスマス超薄膜 / シリコン単結晶
研究概要	結晶内の原子は整然と格子を組んで配列しているが、熱的に振動している(格子振動)。結晶の表面やナノメートル尺度の非常に薄い膜(超薄膜)では、格子振動の様子は結晶内部のそれとは異なっている。その様子を調べるために、格子振動によるX線の散乱を計測する実験手法と、その解析手法を開発した。厚さ10ナノメートル以下のビスマス超薄膜をシリコン基板上に作製し、超薄膜の格子振動由来のX線散乱の計測に成功した。