超音波マイクロスペクトロスコピー(UMS)技術をガラス薄膜の評価に適用した。RFイオンビームスパッタリング法により、2枚のSiO_2ガラス基板上にSiO_2/Ta_2O_5多層膜を成膜し、そのうちの1枚を熱処理した。直線集束ビーム超音波材料解析システムにより漏洩弾性表面波(LSAW)速度の周波数特性を測定することにより、熱処理によるLSAW速度変化を捉えた。また、RFスパッタリング法によりTiO_2-SiO_2薄膜をSiO_2ガラス基板およびTiO_2-SiO_2ガラス基板上に製膜し、膜の仮想温度変化に起因するLSAW速度変化を捉えた。
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