| 研究課題/領域番号 |
23656261
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| 研究種目 |
挑戦的萌芽研究
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| 配分区分 | 基金 |
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| 研究分野 |
計測工学
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| 研究機関 | 東京大学 |
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研究代表者 |
保立 和夫 東京大学, 大学院・工学系研究科, 教授 (60126159)
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| 連携研究者 |
何 祖源 東京大学, 大学院・工学系研究科, 特任教授 (70322047)
岸 眞人 東京大学, 大学院・工学系研究科, 助教 (00150285)
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| 研究期間 (年度) |
2011
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| キーワード | 計測システム / 光ファイバセンサ / スマート材料・構造 / 分布型センシング / 防災危機・管理技術 |
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| 研究概要 |
申請者らが発見した誘導ブリルアン散乱に伴うブリルアンダイナミックグレーティング(BDG)に関し、2次ブラッグ回折の観測に挑戦して理論検討も行った。まず、ファイバグレーティング(FBG)での2次ブラッグ反射の観察に挑み、分散により1次の半分より6nm波長がずれるとの計算と、これと良く合う実験結果を得た。BDGの2次スペクトル幅は10MHz以下であることも計算し、それに対応した測定系を構築した。再現性の点から断定には至っていないが、可能性を有するスペクトルを779. 94nmに見出した。
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