| 研究課題/領域番号 |
23700059
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| 研究機関 | 高知工科大学 |
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研究代表者 |
密山 幸男 高知工科大学, 工学部, 講師 (80346189)
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| 研究期間 (年度) |
2011-04-28 – 2013-03-31
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| キーワード | 再構成可能アーキテクチャ / 信頼性 / 経年劣化 / 遅延故障 |
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| 研究概要 |
本研究課題の目的は、高信頼なバックアップ回路を動的に実現することでシステム停止を伴わず各種故障の検知や調整・修復を可能にする高信頼システムを構築することであり、実デバイスを用いた動作検証ならびに有効性評価まで行う。平成23年度は、これまで開発してきた高信頼粗粒度再構成可能アーキテクチャにおいて、データストリーミング処理だけでなく条件分岐やビット演算などの制御構造を含む実用的なアプリケーションの実現方式について検討し、再構成可能アーキテクチャの改良から試作チップの作成まで行った。さらに、NBTI劣化対策手法について検討し、シミュレーションによって提案手法の有効性を示した。
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| 現在までの達成度 (区分) |
現在までの達成度 (区分)
2: おおむね順調に進展している
理由
高信頼システムの実現に向けて、高信頼粗粒度再構成可能アーキテクチャ上でのバックアップ回路の実現方式について検討し、アーキテクチャの発展的改良を行った。当初計画していた機能検証用FPGA実装環境は構築しなかったが、次年度に計画していた試作チップの設計を今年度中に完了した。NBTI劣化対策手法については、当初計画通り研究を推進し、シミュレーション環境において提案手法の有効性を示した。
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| 今後の研究の推進方策 |
提案回路の有効性を評価するため、昨年度作成した試作チップと周辺回路を搭載する評価用カスタムボードを設計・作成する。自己調整による性能回復を考慮した寿命予測についても研究計画に基づいて取り組む。
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| 次年度の研究費の使用計画 |
試作チップ評価用カスタムボードの作成
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