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高エネルギー加速器実験の強放射線・強磁場という特殊な環境で動作可能なデータ収集系について、とくにその部品を研究した。
Belle II実験を例に、10年分のバックグラウンドγ線や中性子線を複数銘柄のFPGA・光通信用トランシーバー・レギュレーター等に照射して、各部品の一時的エラー頻度および恒久的破壊耐性について定量的に評価して論文誌に公表した。また、1Tほどの強磁場中に置いたデータ収集系についても異常は起きないことを確認した。
また、検出器本体の放射線耐性研究も行い、崩壊点検出器ではその部品が十分な放射線耐性をもつことや、検出器自体のセンサー位置が放射線によってほぼ影響を受けないことも確認した。
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