対向型2探針走査トンネル顕微鏡によるナノスケール電子伝導測定

2012 年度 研究成果報告書

• 研究課題/領域番号: 23760032
• 研究種目: 若手研究(B)
• 配分区分: 基金
• 研究分野: 薄膜・表面界面物性
• 研究機関: 京都大学
• 研究代表者: 黒川 修 京都大学, 大学院・工学研究科, 准教授 (90303859)
• 研究期間 (年度): 2011 – 2012
• キーワード: 走査プローブ顕微鏡

研究概要

走査トンネル顕微鏡は原子分解能をもった表面顕微鏡であり,複数の探針を使用することで,電子伝導特性の計測を行うことができる.しかしながら探針形状,試料形状による幾何学的な制約から,ナノスケールでの電子伝導特性を測定することはできない.本研究では試料形状を工夫することで,ナノスケールの接合の電子伝導特性を測定することが可能であることを実証した.

研究成果

• [雑誌論文] Admittance of Au/1,4-benzenedithiol/Ausingle-molecule junctions"
  • 著者名/発表者名: Y. Kazumasa, S. Kurokawa, A. Sakai
  • 雑誌名: APPLIED PHYSICS LETTERS 巻: 101巻 25号 ページ: 253510
  • 査読あり
• [学会発表] Ge 蒸着によって Si-SiO2 境界に形成されるナノギャップの STM 観察 II (2012)
  • 著者名/発表者名: 黒川 修,太田 靖,酒井 明
  • 学会等名: 第73回応用物理学会学術講演会
  • 発表場所: 松山(12p-PA5-2)
  • 年月日: 2012-09-12
• [学会発表] Formation of the nanogap applicable for direct observation of single molecule junction (2011)
  • 著者名/発表者名: Y. Ota, S. Kurokawa, and A. Sakai
  • 発表場所: Tokyo(13-PN80)
  • 年月日: 2011-12-13
• [備考]
  • URL: http://www.mtl.kyoto-u.ac.jp/groups/electronicshp/src/index.html