研究課題
若手研究(B)
光干渉計は、光波の干渉を利用して測定物体の様々なパラメータ(長さ、形状、断層、膜厚、歪み、分光特性等)を測ることができる。そのため、古くから産業界での製品検査装置から医療検査装置まで幅広く用いられている。我々は、通常の白色干渉法では計測が難しい薄膜の反射面形状計測に主眼を置き、とびとびの離散的な周波数成分から成る波長幅の広い特殊な光の周波数成分を走査可能な光源をSuper luminescent diodeと空間周波数フィルタ及び空間光変調器を用いて制作し、その干渉特性を生かした新しい計測システムを開発した。
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すべて 雑誌論文 (10件) (うち査読あり 3件) 学会発表 (8件) 備考 (1件)
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