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2012 年度 実施状況報告書

微粒子マスクを用いた構造転写技術によるアルミニウム表面の微細加工とその応用

研究課題

研究課題/領域番号 23760703
研究機関工学院大学

研究代表者

阿相 英孝  工学院大学, 工学部, 准教授 (80338277)

キーワード構造転写技術 / 材料加工・処理 / アノード酸化 / コロイド結晶
研究概要

申請者が取り組むナノ・マイクロ規則構造作製技術を有用なプロセスとして位置付けるためには,パターンの規則性を高度に制御することに加え,マスクの耐エッチング性を向上させる必要があった。また,デバイス応用の可否に加え特性向上を決定づけるには,パターンの精密性もさることながら加工面積の拡大も優先課題であった。本年度は,前年度に引き続き,スピンコート法を用いた微粒子(ポリスチレン,シリカ微粒子)の二次元自己組織化膜形成条件の最適化に加え,レジスト製マスクを介した種々の湿式化学エッチングによる構造転写を実施した。
前年度は下地基板として原子レベルで平滑な各種半導体単結晶基板(Si,GaAs,InP)を用いて,作製したマスクの有用性を検証したが,本年度は半導体基板に比べて表面の平滑性に劣るアルミニウム基板(圧延板)に対してもマスクの作製条件を模索した。その結果,アルミニウム基板に対して,直接微粒子を展開・配列させても高い二次元の規則性を持つ自己組織化膜を形成できなかったが,レジストを中間層として塗布し,その上に微粒子を展開することで,微粒子配列の規則性を改善することできた。また形成した微粒子を間接的なマスクとして中間層のレジストに構造転写することで,ミクロン周期で規則的な開口部の配列を持つフォトレジスト製ハニカムマスク作製することができた。また,そのマスクを介して下地基板であるアルミニウムを位置選択的に化学エッチングできることを確認した。

現在までの達成度 (区分)
現在までの達成度 (区分)

2: おおむね順調に進展している

理由

基板表面の平滑性が高い各種半導体単結晶基板上では,開口部がミクロン周期で規則配列したレジスト製マスクの作製が比較的容易であり,下地基板との密着性にも優れることから,アノード酸化などの湿式プロセスにおいて,微細加工位置を高度に制御することができた。一方,平滑性に劣るアルミニウム表面の場合には,前処理に電解研磨を導入し,表面粗さを軽減した後に同手法を適用することで,アルミニウム基板上においても開口部がミクロン周期で規則配列したレジスト製マスクを得ることができた。マスクを介した下地アルミニウム基板の微細加工に関しては,十分に検討が進んでいないが,位置選択的な反応を制御するマスクとしては十分に機能することを確認した。

今後の研究の推進方策

これまで課題となっていた,金属アルミニウム上への高規則性・高密着性マスクの形成に関しては,前処理条件の最適化も含め検討を継続した結果,半導体基板同様に本手法を適用できることがわかった。しかしながら,マスクを介した種々の微細加工に関しては,十分に検討が進んでいないことから,マスクの耐薬品性,長期密着性などを系統的に評価する必要がある。二次加工の手法としては,電解エッチングだけでなく,通常のアノード酸化やめっき反応などを組み合わせることで,異種材料とのコンポジット化や新規構造体の創製などへ展開を図る。

次年度の研究費の使用計画

研究遂行のための設備備品のほとんどは備わっており,新規に導入を必要とする設備備品はない。そのため研究費は,系統的な研究を実施するための実験材料(微粒子懸濁液,試薬,基板),研究成果を公開するための国内旅費,国外旅費および学術雑誌への論文投稿にかかる費用などで使用する予定である。

  • 研究成果

    (8件)

すべて 2013 2012

すべて 雑誌論文 (3件) (うち査読あり 3件) 学会発表 (5件) (うち招待講演 2件)

  • [雑誌論文] Morphological Control of Periodic GaAs Hole Arrays by Simple Au-Mediated Wet Etching2012

    • 著者名/発表者名
      Y. Yasukawa, H. Asoh and S. Ono
    • 雑誌名

      Journal of the Electrochemical Society

      巻: 159, (5) ページ: D328-D332

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Hexagonal geometric patterns formed by radial pore growth of InP based on Voronoi tessellation2012

    • 著者名/発表者名
      H. Asoh, J. Iwata and S. Ono
    • 雑誌名

      Nanotechnology

      巻: 23 ページ: 215304/1-/8

    • DOI

      10.1088-0957-4484/23/21/215304

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Triangle pore arrays fabricated on Si (111) substrate by sphere lithography combined with metal-assisted chemical etching and anisotropic chemical etching2012

    • 著者名/発表者名
      H. Asoh, K. Fujihara and S. Ono
    • 雑誌名

      Nanoscale Research Letters

      巻: 7 ページ: 406/1-406/8

    • DOI

      10.1186/1556-276X-7-406

    • 査読あり
  • [学会発表] GaAsの金属触媒エッチングに対するエッチャント温度の効果2013

    • 著者名/発表者名
      阿相英孝,尾熊健一,小野幸子
    • 学会等名
      電気化学会 創立80周年記念大会
    • 発表場所
      宮城
    • 年月日
      20130329-20130329
  • [学会発表] Natural lithography of semiconductor surface using anodic etching, anisotropic chemical etching and metal-assisted chemical etching2012

    • 著者名/発表者名
      H. Asoh and S. Ono
    • 学会等名
      2012 International Symposium on Nano Science and Technology
    • 発表場所
      台南,台湾
    • 年月日
      20121108-20121108
    • 招待講演
  • [学会発表] アノード酸化ポーラスアルミナ上へのHApの位置選択的析出2012

    • 著者名/発表者名
      菅原康祐,阿相英孝,小野幸子
    • 学会等名
      金属のアノード酸化皮膜の機能化部会 第29回伊豆長岡コンファレンス
    • 発表場所
      静岡
    • 年月日
      20121101-20121102
  • [学会発表] Nano-Fabrication of Semiconductor Surface Using Anodic Etching, Anisotropic Chemical Etching and Anodic Oxidation2012

    • 著者名/発表者名
      S. Ono, S. Kotaka and H. Asoh
    • 学会等名
      63rd Annual Meeting of the International Society of Electrochemistry (ISE 2012)
    • 発表場所
      プラハ,チェコ
    • 年月日
      20120822-20120822
    • 招待講演
  • [学会発表] 局所アノード酸化により作製したアノード酸化アルミナパターン上へのカルシウム塩の位置選択的析出2012

    • 著者名/発表者名
      菅原康祐,阿相英孝,小野幸子
    • 学会等名
      無機マテリアル学会 第124回学術講演会
    • 発表場所
      千葉
    • 年月日
      20120607-20120607

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公開日: 2014-07-24  

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