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2011 年度 実績報告書

近接場チップ増強ラマン分光による半導体デバイスの局所領域応力分布評価に関する研究

研究課題

研究課題/領域番号 23860051
研究機関明治大学

研究代表者

小瀬村 大亮  明治大学, 理工学部, 助教 (00608284)

キーワード結晶工学 / 半導体物性 / 光物性 / 近接場 / シリコン / 応力 / ラマン散乱
研究概要

当初の予定通りコロラド大学のProf. Markus Raschkeの研究室で近接場チップ増強ラマン分光法(TERS)の条件検討を行った。金属ナノ探針として外気中でも安定なAuを選択して、AFMに用いられるSiN探針に様々な条件でAuを蒸着した。Au探針先端の表面プラズモン励起による電場増強(近接場)を効率的に行えるかはAuの膜厚や形状に大きく依存するので詳細な条件検討が必要となる。試料はstrained Si on insulator(SSOI)基抜を用いた。同試料の構造はSi基板上に埋め込み酸化膜(BOX : buried oxicde)が配置され、そのBOX上に等方性2軸応力が印加された歪Si層(SSOI)がある。TERSの励起光として波長約633nmのHeNeレーザーを用いた。そのため、励起光はSSOI、およびBOXを透過してSi基板まで到達する。SSOIとSi基板の信号比に注目して、Au探針の条件検討を行った。その結果、SSOIの強度比が大きく増大したことから、Au探針先端において近接場が得られたことを確認した。この近接場はAu探針先端径程度の領域に局在しているので、約20-30nmの空間分解能を持っていると考えられる。さらに、TERSの偏光依存性について検討した。TERSの電場増強は励起光の偏光方向に大きく依存する。TERS測定におけるSiラマン散乱の偏光選択則について詳細な解析例は少ない。励起光の偏光方向を細かく制御して近接場により励起されたSiラマン散乱スペクトルを解析した結果、得られるラマン散乱強度は大きな偏光依存性を持っていて、最も効率的な偏光配置を検討した。

現在までの達成度 (区分)
現在までの達成度 (区分)

2: おおむね順調に進展している

理由

当初の予定通り初年度でAu金属探針先端の近接場を確認することができた。空間分解能はおよそ20-30nmであり、当初の目標である10nmに比べてやや低い。次年度ではさらに条件検討を進めて当初の目標を達成する。

今後の研究の推進方策

次年度では、目標であるAu探針先端径10mmを目指してさらに条件検討を進める。また、TERSにおけるSiラマン散乱の偏光依存性を明らかにするために、有限差分時間領域法を用いて近接場の電場分布を詳細に解析する。そして、歪Si試料の局所領域における応力分布評価、および実際の最先端トランジスタを購入してSiチャネル領域に印加された応力分布評価を達成する。

  • 研究成果

    (11件)

すべて 2012 2011

すべて 雑誌論文 (2件) (うち査読あり 2件) 学会発表 (9件)

  • [雑誌論文] Evaluation of Anisotropic Strain Relaxation in Strained Silicon-on-Insulator Nanostructure by Oil-Immersion Raman Spectroscopy2012

    • 著者名/発表者名
      Daisuke Kosemura, Motohiro Tomita, Koji Usuda, Atsushi Ogura
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 51 ページ: "02BA03-1"-"02BA03-7"

    • DOI

      10.1143/JJAP.51.02BA03

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Channel Strain Measurements in 32nm-node CMOSFETs2012

    • 著者名/発表者名
      Munehisa Takei, Hiroki Hashiguchi, Takuya Yamaguchi, Daisuke Kosemura, Kohki Nagata, Atsushi Ogura
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 51 ページ: "04DA04-1"-"04DA04-5"

    • DOI

      10.1143/JJAP.51.04DA04

    • 査読あり
  • [学会発表] 異方的SSOI層の軸分解ラマン測定2012

    • 著者名/発表者名
      小瀬村大亮、富田基裕、臼田宏治、小椋厚志
    • 学会等名
      秋季応用物理学会
    • 発表場所
      山形大学
    • 年月日
      2012-09-02
  • [学会発表] 液浸技術および超解像技術を用いたラマン分光法の高空間分解能化2012

    • 著者名/発表者名
      富田基裕、橋口祐樹、山口拓也、武井宗久、小瀬村大亮、小椋厚志
    • 学会等名
      秋季応用物理学会
    • 発表場所
      山形大学
    • 年月日
      2012-09-02
  • [学会発表] High-mobility and Low-parasitic Resistance Characteristics in Strained Ge Nanowire pMOSFETs with Metal Source/Drain Structure Formed by Doping-free Processes2012

    • 著者名/発表者名
      Keiji Ikeda, Mizuki Ono, Daisuke Kosemura, Koji Usuda, Minoru Oda, Yuuichi Kamimuta, Toshifumi Irisawa, Yoshihiko Moriyama, Atsushi Ogura, Tsutomu Tezuka
    • 学会等名
      Symposium on VLSI Technology
    • 発表場所
      Hawai
    • 年月日
      2012-06-14
  • [学会発表] 液浸ラマン分光法による歪SiGeの異方性応力評価2012

    • 著者名/発表者名
      小瀬村大亮、富田基裕、臼田宏治、小椋厚志
    • 学会等名
      春季応用物理学会
    • 発表場所
      早稲田大学
    • 年月日
      2012-03-18
  • [学会発表] 有限要素法による微細構造歪SiGe層の異方性応力緩和評価2012

    • 著者名/発表者名
      富田基裕、小瀬村大亮、臼田宏治、小椋厚志
    • 学会等名
      春季応用物理学会
    • 発表場所
      早稲田大学
    • 年月日
      2012-03-18
  • [学会発表] Biaxial Stress Measurements in Mesa-shaped Strained Si Layers by Oil-Immersion Raman Spectroscopy2012

    • 著者名/発表者名
      Daisuke Kosemura, Motohiro Tomita, Koji Usuda, Atsushi Ogura
    • 学会等名
      International Symposium on "Development of Core Technologies for Green Nanoelectronics"
    • 発表場所
      Tsukuba, Japna
    • 年月日
      2012-03-14
  • [学会発表] Evaluation of Anisotropic Stress Relaxation in Mesa-Shaped Strained Si Layers by FEM Simulation2012

    • 著者名/発表者名
      Motohiro Tomita, Daisuke Kosemura, Koji Usuda, Tsutomu Tezuka, Atsushi Ogura
    • 学会等名
      International Symposium on "Development of Core Technologies for Green Nanoelectronics"
    • 発表場所
      Tsukuba, Japan
    • 年月日
      2012-03-14
  • [学会発表] Evaluation of Anisotropic Strain Relaxation in SSOI Nanostructure by Oil-Immersion Raman Spectroscopy2011

    • 著者名/発表者名
      Daisuke Kosemura, Motohiro Tomita, Koji Usuda, Atsushi Ogura
    • 学会等名
      International Conference on Solid State Device and Materials
    • 発表場所
      Nagoya, Japan
    • 年月日
      2011-09-29
  • [学会発表] Channel Strain measurements in 32-nm-node CMOSFETs2011

    • 著者名/発表者名
      Munehisa Takei, Hiroki Hashiguchi, Takuya Yamaguchi, Daisuke Kosemura, Kohki Nagata, Atsushi Ogura
    • 学会等名
      International Conference on Solid State Device and Materials
    • 発表場所
      Nagoya, Japan
    • 年月日
      2011-09-29

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公開日: 2013-06-26  

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