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研究成果発表報告書

Ⅲ‐Ⅴ族pチャネルMOSFETのための価電子帯エンジニアリングと界面双極子制御

研究課題

研究課題/領域番号 24246058
研究種目

基盤研究(A)

配分区分補助金
応募区分一般
研究分野 電子・電気材料工学
研究機関独立行政法人産業技術総合研究所

研究代表者

安田 哲二  独立行政法人産業技術総合研究所, ナノエレクトロニクス研究部門, 研究部門長 (90220152)

研究分担者 前田 辰郎  独立行政法人産業技術総合研究所, ナノエレクトロニクス研究部門, 主任研究員 (40357984)
宮田 典幸  独立行政法人産業技術総合研究所, ナノエレクトロニクス研究部門, 研究グループ長 (40358130)
大竹 晃浩  独立行政法人物質・材料研究機構, 先端フォトニクス材料研究ユニット, 主幹研究員 (30267398)
奈良 純  独立行政法人物質・材料研究機構, 理論計算科学ユニット, 主任研究員 (30354145)
藤代 博記  東京理科大学, 基礎工学部, 教授 (60339132)
連携研究者 市川 昌和  国立大学法人東京大学, 工学系研究科, 上席研究員 (20343147)
田中 正俊  国立大学法人横浜国立大学, 工学研究院, 教授 (90130400)
研究期間 (年度) 2012-04-01 – 2015-03-31
  • 研究成果

    (2件)

すべて 2013

すべて 産業財産権 (2件)

  • [産業財産権] 不揮発性記憶素子2013

    • 発明者名
      宮田 典幸
    • 権利者名
      産業技術総合研究所
    • 産業財産権種類
      特許
    • 産業財産権番号
      特願2013-192920
    • 出願年月日
      2013-09-18
    • 取得年月日
      2017-05-26
  • [産業財産権] 表面の平坦性および結晶構造の完全性に優れたGaSb/InAs/S1(111)構造とその形成方法、並びにその構造を用いたMOSデバイスおよび赤外線検出デバイス2013

    • 発明者名
      宮田 典幸, 安田 哲二, 大竹 晃浩, 真野 高明
    • 権利者名
      産業技術総合研究所, 国立研究開発法人物質・材料研究機構
    • 産業財産権種類
      特許
    • 産業財産権番号
      特願2013-195290
    • 出願年月日
      2013-09-20
    • 取得年月日
      2017-06-09

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公開日: 2018-01-10   更新日: 2018-02-05  

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