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2012 年度 実績報告書

立体構造半導体/酸化膜界面のハイスループットモデリング技術の開発

研究課題

研究課題/領域番号 24310082
研究種目

基盤研究(B)

研究機関早稲田大学

研究代表者

渡邉 孝信  早稲田大学, 理工学術院, 教授 (00367153)

研究期間 (年度) 2012-04-01 – 2015-03-31
キーワード表面・界面ナノ科学 / シリコン / 絶縁膜 / 分子動力学法
研究概要

急速に進む立体構造デバイスの研究開発を支えるため、ナノスケールの半導体結晶、およびそれを覆う酸化絶縁膜の原子論的界面構造モデルを、ハイスループットで自動生成するアルゴリズムの開発に取り組んだ。このシミュレーション手法が完成すると、フィン型やナノワイヤ型など様々な立体構造デバイスの原子模型を作成でき、歪や欠損、界面の凹凸、結晶粒界を含む、現実的な構造モデルを用いた第一原理電子輸送シミュレーションが可能となる。
当該年度においては、研究代表者が開発したSi,O混在系用分子動力学シミュレーション技術をベースに、ドロネー解析を用いる酸化サイト高速判定法のプログラムをインプリメントした。さらに、酸化シミュレータの応用計算も前倒しで進め、レイヤーバイレイヤー酸化を表現する簡易版のプログラムを用いて、結晶粒界を含む半導体と酸化膜の界面構造モデルの生成、酸化膜で覆われたフィン型デバイス内の熱輸送シミュレーション、酸化膜で覆われたシリコンナノワイヤ中のフォノン分散の計算、酸化被膜に覆われたシリコンナノドットモデルの作成を実施した。その結果、多結晶シリコン太陽電池の粒界構造、シリコンナノワイヤ特有の熱伝導特性、シリコンナノドットのインパクトイオン化率に関する基礎的知見を得ることができた。
また、研究開始時には計画していなかったが、グラフィック用プロセッサを用いた汎用並列計算を試験的に導入し、分子動力学計算の高速化に対する顕著な有効性を確認した。今後は、計算アルゴリズムだけでなく、近年飛躍的な進歩を遂げているハードウェア技術も活用して、シリコン系デバイスの原子論的モデリングの一層の効率化を図る。

現在までの達成度 (区分)
現在までの達成度 (区分)

2: おおむね順調に進展している

理由

当初の計画以上に進展している項目が多くある一方で、次年度の課題として持ち越している項目もあるため、「(2)おおむね順調に進展している」と自己評価する。自動酸化プログラムの応用計算は前倒しで進んでいるが、様々な系に適用できる単一のパラメータセットへの絞り込みは、もう少し時間を要する。

今後の研究の推進方策

完成した自動酸化プログラムのフレームワークを用いて、様々な形態の結晶構造に適用できる単一のパラメータセットを絞り込んでいく。さらに、計算の対象をシリコン以外の半導体に拡げるため、新しい多元素混在系用原子間ポテンシャルの開発に取り組む。

次年度の研究費の使用計画

当該年度はプログラムの開発に注力し、性能評価のための応用計算は現有設備の範囲内で実施できた。本格的な大規模計算のためのハードウェア導入は、次年度に行うこととした。

  • 研究成果

    (25件)

すべて 2013 2012

すべて 雑誌論文 (2件) (うち査読あり 2件) 学会発表 (23件)

  • [雑誌論文] Disorder-Induced Enhancement of Avalanche Multiplication in a Silicon Nanodot Array2013

    • 著者名/発表者名
      Nobuya Mori
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 52 ページ: 04CJ04.1-04CJ04.4

    • DOI

      10.7567/JJAP.52.04CJ04

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Phonon Dispersion in <100>Si Nanowire Covered with Si02 Film Calculated by Molecular Dynamics Simulation2012

    • 著者名/発表者名
      Takanobu Watanabe
    • 雑誌名

      ECS Transcations

      巻: 50 ページ: 673-680

    • DOI

      10.1149/05009.0673ecst

    • 査読あり
  • [学会発表] ショットキー障壁トンネルFETの伝達特性に鏡像効果が及ぼす影響2013

    • 著者名/発表者名
      橋本 修一郎
    • 学会等名
      第60回応用物理学関連連合講演会
    • 発表場所
      厚木
    • 年月日
      2013-03-28
  • [学会発表] GPU並列計算による計算によるキャリア輸送シミュレーションの高速化輸送シミュレーションの高速化2013

    • 著者名/発表者名
      鈴木 晃人
    • 学会等名
      第60回応用物理学関連連合講演会
    • 発表場所
      厚木
    • 年月日
      2013-03-28
  • [学会発表] シャドーイング効果を利用した低エネルギーイオン誘起損傷のその場STM観察2013

    • 著者名/発表者名
      武良 光太郎
    • 学会等名
      第60回応用物理学関連連合講演会
    • 発表場所
      厚木
    • 年月日
      2013-03-27
  • [学会発表] 非対称ホーン形状チャネルによるキャリア輸送の制御:EMC/MDシミュレーションによる検討2013

    • 著者名/発表者名
      神岡 武文
    • 学会等名
      ゲートスタック研究会(第18回)―材料・プロセス・評価の物理―
    • 発表場所
      湯河原
    • 年月日
      2013-01-25
  • [学会発表] 全周ゲート型ショットキー障壁トンネルFET特性に鏡像効果が及ぼす影響2013

    • 著者名/発表者名
      川村 祐士
    • 学会等名
      ゲートスタック研究会(第18回)―材料・プロセス・評価の物理―
    • 発表場所
      湯河原
    • 年月日
      2013-01-25
  • [学会発表] Current fluctuation in sub-nano second regime in gate-all-around nanowire channels studied with ensemble Monte Carlo/molecular dynamics simulation2012

    • 著者名/発表者名
      Takefumi Kamioka
    • 学会等名
      IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM 2012)
    • 発表場所
      USA San Fransico
    • 年月日
      2012-12-11
  • [学会発表] 立体構造シリコン中の熱輸送に関する分子動力学シミュレーション2012

    • 著者名/発表者名
      図師 知文
    • 学会等名
      シリコン材料・デバイス研究会(SDM)
    • 発表場所
      東京
    • 年月日
      2012-11-16
  • [学会発表] In-Situ Scanning Tunneling Microscopy of Ion Irradiation Process on Wire-patterned Si Surface2012

    • 著者名/発表者名
      Fumiya Isono
    • 学会等名
      34th International Symposium on Dry Process (DPS 2012)
    • 発表場所
      東京
    • 年月日
      2012-11-15
  • [学会発表] Molecular Dynamics Simulation of Thermal Properties of Nanoscale Silicon Structures Covered with Oxide Film2012

    • 著者名/発表者名
      Takanobu Watanabe
    • 学会等名
      The 3rd Advanced Materials Development and Integration of Novel Structured Metallic and Inorganic Materials (AMDI-3)
    • 発表場所
      豊橋(Invited) )
    • 年月日
      2012-11-07
  • [学会発表] Impact of oxidation induced atomic disorder in narrow Si nanowires on transistor performance2012

    • 著者名/発表者名
      図師 知文
    • 学会等名
      第12回関西コロキアム・電子デバイスワークショップ
    • 発表場所
      大阪
    • 年月日
      2012-10-25
  • [学会発表] Phonon Dispersion in <100>Si Nanowire Covered with Si02 Film Calculated by Molecular Dynamics Simulation2012

    • 著者名/発表者名
      Takanobu Watanabe
    • 学会等名
      PRiME 2012, ECS 222nd Meeting, SiGe, Ge, and Related Compounds : Materials, Processing, and Devices 5
    • 発表場所
      USA Honolulu
    • 年月日
      2012-10-10
  • [学会発表] Disorder-Induced Enhancement of Avalanche Multiplication in a Silicon Nanodot Array2012

    • 著者名/発表者名
      Nobuya Mori
    • 学会等名
      2012 International Conference on Solid State Devices and Materials (SSDM 2012)
    • 発表場所
      京都
    • 年月日
      2012-09-25
  • [学会発表] Disorder-Induced Enhancement of Impact Ionization Rate in Silicon Nanodots2012

    • 著者名/発表者名
      Nobuya Mori
    • 学会等名
      International Union of Materials Research Societies - Internatinal Conference on Electronic Materials 2012 (IUMRS-ICEM 2012)
    • 発表場所
      横浜
    • 年月日
      2012-09-25
  • [学会発表] 酸化膜に覆われたナノワイヤ型Si結晶のフォノン分散関係2012

    • 著者名/発表者名
      富田 将典
    • 学会等名
      第73回応用物理学会学術講演会
    • 発表場所
      松山
    • 年月日
      2012-09-14
  • [学会発表] 分子動力学法による立体構造シリコン中の熱輸送シミュレーション2012

    • 著者名/発表者名
      図師 知文
    • 学会等名
      第73回応用物理学会学術講演会
    • 発表場所
      松山
    • 年月日
      2012-09-14
  • [学会発表] GAA NWチャネルにおける酸化膜中単一トラップ電荷の影響調査 : EMC/MDシミュレーションによる解析2012

    • 著者名/発表者名
      神岡 武文
    • 学会等名
      第73回応用物理学会学術講演会
    • 発表場所
      松山
    • 年月日
      2012-09-14
  • [学会発表] ナノサイズの金属/半導体界面における鏡像効果2012

    • 著者名/発表者名
      川村 祐士
    • 学会等名
      第73回応用物理学会学術講演会
    • 発表場所
      松山
    • 年月日
      2012-09-14
  • [学会発表] 非対称チャネルにおけるキャリア輸送のEMC/MDシミュレーション(II)2012

    • 著者名/発表者名
      今井 裕也
    • 学会等名
      第73回応用物理学会学術講演会
    • 発表場所
      松山
    • 年月日
      2012-09-14
  • [学会発表] 分子動力学法によるGeナノワイヤのストレス分布解析2012

    • 著者名/発表者名
      青木 直成
    • 学会等名
      第73回応用物理学会学術講演会
    • 発表場所
      松山
    • 年月日
      2012-09-12
  • [学会発表] 多結晶シリコン粒界における酸化誘起ストレス分布 : 分子動力学法による解析2012

    • 著者名/発表者名
      栗山 亮
    • 学会等名
      第73回応用物理学会学術講演会
    • 発表場所
      松山
    • 年月日
      2012-09-12
  • [学会発表] Molecular Dynamics Simulation of Heat Transport in Silicon Fin Structures2012

    • 著者名/発表者名
      Tomofumi Zushi
    • 学会等名
      2012 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD)
    • 発表場所
      USA Denver
    • 年月日
      2012-09-05
  • [学会発表] Impact of single trapped charge in gate-all-around nanowire channels studied by ensemble Monte Carlo/molecular dynamics simulation2012

    • 著者名/発表者名
      Tomofumi Zushi
    • 学会等名
      2012 International Conference on Simulation of Semiconductor Processes and Devices (SISPAD)
    • 発表場所
      USA Denver
    • 年月日
      2012-09-05
  • [学会発表] Effects of atomic disorder on impact ionization rate in silicon nanodots2012

    • 著者名/発表者名
      Nobuya Mori
    • 学会等名
      31st International Conference on the Physics of Semiconductors (ICPS 2012)
    • 発表場所
      Switzerland Zurich
    • 年月日
      2012-07-31

URL: 

公開日: 2014-07-16  

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