| 研究課題/領域番号 |
24360007
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| 研究機関 | 東京工業大学 |
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研究代表者 |
佐々木 聡 東京工業大学, 応用セラミックス研究所, 教授 (10162364)
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| 研究分担者 |
奥部 真樹 東京工業大学, 応用セラミックス研究所, 助教 (10397060)
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| 研究期間 (年度) |
2012-04-01 – 2015-03-31
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| キーワード | Ｘ線共鳴磁気散乱 / Ｘ線ミラー / 放物面多層膜ミラー / 移相子 / 円偏光Ｘ線 / ４軸回折計 / 不対電子密度 / 放射光Ｘ線 |
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| 研究概要 |
放射光Ｘ線回折実験用放物面多層膜ミラーを導入したことで、高強度Ｘ線が利用できるようになった。高エネ研 Photon Factory のビームラインBL-6Cに設置した４軸回折計の試料位置で、エネルギーが7 keVのＸ線が設計通りに集光できることを確認した。さらに、４軸回折計に直径が0.1 mm程度の単結晶試料をマウントし、方位マトリックスを精密化した後に、Ｘ線共鳴磁気散乱強度を充分なS/N比で観測できることを確認した。
Ｘ線磁気円二色性（XMCD）効果を利用するとともに、共鳴磁気散乱強度のエネルギー依存性も独立に求め、実験波長を特定の電子遷移に合わせた。その上で、Fe K およびMn K 吸収端で円偏光放射光Ｘ線を用い、結晶構造解析用の３次元データ測定を行った。左右円偏光間での共鳴磁気散乱強度の非対称度の観測から、マグネタイトやBaフェライト中のFe原子の磁性電子の磁気モーメントの分布を求めた。Ｘ線回折が電子雲の観察を得意とすることから、今後、Fe 3d や 4p 電子に係わる酸素電子の寄与も考慮した混成軌道に対し、吸収端での不対電子密度の解析を行う。
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| 現在までの達成度 (区分) |
現在までの達成度 (区分)
2: おおむね順調に進展している
理由
放物面多層膜ミラーの導入して、４軸回折計制御システムを立ち上げ、放射光強度測定実験が可能になった。現在、放射光円偏光Ｘ線を利用して、酸化物試料で共鳴磁気散乱強度を測定しながら、磁気構造解析を精力的に行っている。
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| 今後の研究の推進方策 |
４軸回折計により収集されたＸ線共鳴磁気散乱に関する３次元回折強度を解析し、磁気構造解析を行う。フーリエ合成法を併用しながら、電子軌道の磁気的解析を目指す。研究計画には特に変更はない。
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| 次年度の研究費の使用計画 |
寒剤等に消耗品費が多くかかる低温実験が当年度には計画より少なくなった。また、人件費や謝金については、その支出を極力抑え、自前での作業に切り替えたためである。旅費の支出が少なかったのは、国際会議がアジアで開催されたためである。
当年度少なかった低温実験を翌年度には多く計画しており、消耗品費が増加する。旅費についても、すでにカナダでの国際会議に参加登録しており、翌年度分と合わせて使用する予定である。
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