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強相関4f電子系化合物で見られる量子相転移現象を価数ゆらぎという観点から理解するために、低温・強磁場・高圧という複合極限環境の下でのX線分光測定を実施した。高精度・高分解能スペクトルの取得を実現し、また価数評価法の確立とその精密化に成功した。これらの手法を用いてCeおよびYb化合物を中心に価数評価を行い、物性測定（電気抵抗や磁化率など）で作成された相図上に価数マッピングを行うことで、量子臨界現象と価数との相関を調べることができるようになった。本研究課題で開発された手法は、原理的にすべての希土類化合物に適用可能であり、今後、物性と価数との相関に関する新たな知見が得られることが期待される。
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