| 研究成果の概要 |
イネにおける既知の3種類の雑種弱勢現象はそれぞれ１組の遺伝子の組合せ，すなわち，Hwa1-1とHwa2-1, Hwc1-1とHwc2-1, W-1とW-2によって引き起こされる．W-1, W-2による弱勢現象は再現できなかったため，残りの4遺伝子を分析した．連鎖分析によって染色体上の座乗位置を絞り込み，その領域における遺伝的多型性を調べることで，４弱勢原因遺伝子がそれぞれ単一起源であることを明らかにした．2種類の弱勢現象は病害抵抗性関連や光合成関連の遺伝子発現や細胞レベルでの生理学的現象が類似であることを明らかにした．また，新たな雑種弱勢様現象を野生イネ間の雑種第一代で発見した．
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