| 研究課題/領域番号 |
24592844
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| 研究種目 |
基盤研究(C)
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| 配分区分 | 基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
病態科学系歯学・歯科放射線学
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| 研究機関 | 日本大学 |
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研究代表者 |
金田 隆 日本大学, 松戸歯学部, 教授 (40185947)
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| 研究分担者 |
小椋 一朗 日本歯科大学, 新潟生命歯学部, 准教授 (30349972)
岡田 裕之 日本大学, 松戸歯学部, 教授 (70256890)
森 進太郎 日本大学, 松戸歯学部, 講師 (40419792)
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| 研究期間 (年度) |
2012-04-01 – 2016-03-31
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| キーワード | パラメトリックＸ線 / 位相コントラストイメージング / Ｘ線吸収端 / 画像診断 / 医療応用 |
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| 研究成果の概要 |
本研究の目的は新しい位相の整ったパラメトリックX線の画像診断への臨床応用の基盤的な研究を行なうことである。
がん検体や造影剤を用いた実験より，パラメトリックエックス線は，従来の白色エックス線源と比較して，腫瘍組織や軟組織等の観察に適していた。パラメトリックエックス線は，新規分子イメージングの可能性と従来のエックス線源と異なる画像が得られ，画像診断への臨床応用への有用性が示唆された。
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| 自由記述の分野 |
歯科放射線学
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