• 研究課題をさがす
  • 研究者をさがす
  • KAKENの使い方
  1. 課題ページに戻る

2013 年度 実績報告書

ストリーム処理技術を応用したシステム自動修復技術に関する研究

研究課題

研究課題/領域番号 24650019
研究機関東京大学

研究代表者

藤田 昌宏  東京大学, 大規模集積システム設計教育研究センター, 教授 (70323524)

キーワード自動設計修復 / ハイパフォーマンスコンピューティング / ストリーム処理化
研究概要

本研究では、メニコア・FPGA・GPU向けの処理高速化のためのストリーム化およびその設計支援、加えて、それによって得られる高速なシミュレーションを前提としたシミュレーションに基づく完全な検証や設計修復に関する研究開発を行った。
今年度は、シミュレーションに用いるテストパタン生成手法と設計修正手法の研究を実施した。テストパタン生成手法によって得られたパタン集合は、高速化されたシミュレーション環境において、設計の正しさを完全に検証するために利用される。ここでの「完全」とは、設計をいくつかの部分回路に分割し、部分回路における任意の論理変化を設計誤りと定義するとき、そのような設計誤りの範囲において(それ以外の設計誤りは存在しないと仮定して)、設計の正しさが証明されるいうことである。そのような検証を可能とするテストパタン集合の生成手法は、設計全体が仕様を満たすような部分回路論理を同定できるパタン集合である。本研究では、このテストパタン生成手法を提案し、ISCASベンチマーク回路において、実際にテストパタン生成が可能であることを示した。設計修正手法についても、設計の一部をプログラム可能な部分回路で置換し、その論理を設計が正しくなるように求める手法に基づいている。このとき、部分回路の入力変数の不足によって、修復ができない場合があるため、効率的な追加変数探索手法を提案し、評価を行った。
研究期間全体を通しては、津波シミュレーションおよびニューラルネットワークシミュレーションを例題としたストリーム化による処理の高速化、シミュレーションによって完全な検証を行うためのテストパタン生成手法、誤りを持つ設計の自動修復手法を得ることができた。

  • 研究成果

    (6件)

すべて 2014 2013

すべて 雑誌論文 (1件) (うち査読あり 1件) 学会発表 (5件)

  • [雑誌論文] SAT-based automatic rectification and debugging of combinational circuits with LUT insertions2014

    • 著者名/発表者名
      Satoshi Jo, Takeshi Matsumoto, Masahiro Fujita
    • 雑誌名

      IPSJ Transactions on System LSI Design Methodology

      巻: 7 ページ: 46-55

    • DOI

      10.2197/ipsjtsldm.7.46

    • 査読あり
  • [学会発表] アサーション自動生成とそのシミュレーションによる完全検証2014

    • 著者名/発表者名
      藤田昌宏, 城怜史, 松本剛史
    • 学会等名
      組込み技術とネットワークに関するワークショップ ETNET2014
    • 発表場所
      ICT文化センター, 沖縄
    • 年月日
      20140315-20140316
  • [学会発表] Hardware Implementation of BLTL Property Checkers for Acceleration of Statistical Model Checking2013

    • 著者名/発表者名
      Kousuke Oshima, Takeshi Matsumoto, Masahiro Fujita
    • 学会等名
      International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD '13)
    • 発表場所
      San Jose, USA
    • 年月日
      20131103-20131106
  • [学会発表] Partial synthesis through sampling with and without specification2013

    • 著者名/発表者名
      Masahiro Fujita, Satoshi Jo, Shohei Ono, Takeshi Matsumoto
    • 学会等名
      International Conference on Computer-Aided Design (ICCAD '13)
    • 発表場所
      San Jose, USA
    • 年月日
      20131103-20131106
  • [学会発表] A Debugging Method for Gate Level Circuit Designs by Introducing Programmability2013

    • 著者名/発表者名
      Kousuke Oshima, Takeshi Matsumoto, Masahiro Fujita
    • 学会等名
      21st IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC '13)
    • 発表場所
      Istanbul, Turkey
    • 年月日
      20131007-20131009
  • [学会発表] FOF: Functionally Observable Fault and its ATPG Techniques2013

    • 著者名/発表者名
      Masahiro Fujita, Takeshi Matsumoto, Satoshi Jo
    • 学会等名
      21st IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SoC '13)
    • 発表場所
      Istanbul, Turkey
    • 年月日
      20131007-20131009

URL: 

公開日: 2015-05-28  

サービス概要 検索マニュアル よくある質問 お知らせ 利用規程 科研費による研究の帰属

Powered by NII kakenhi