組み込み型電圧変動センサを用いた動的電流テスト法に関する研究

2013 年度 研究成果報告書

• 研究課題/領域番号: 24650021
• 研究種目: 挑戦的萌芽研究
• 配分区分: 補助金
• 研究分野: 計算機システム・ネットワーク
• 研究機関: 徳島大学
• 研究代表者: 橋爪 正樹 徳島大学, ソシオテクノサイエンス研究部, 教授 (40164777)
• 研究期間 (年度): 2012-04-01 – 2014-03-31
• キーワード: 断線 / 電流テスト / IC / IDDTテスト / 電流センサ回路 / 遅延故障 / CMOS

研究概要

本研究はIC製造時に発生した欠陥を電源からICに供給される電源電流の異常で発見し，ICの高信頼化の実現を目指すものである。本研究では電源電流の中でも検査入力印加直後のみに現れる動的電源電流の出現時間の異常で検査するためのIC内組み込み型検査回路，ならびにその検査回路を用いた検査法を開発した。またその回路を組み込んだICを設計・試作し，実験によりIC内の断線検出が可能であることを確認した。

研究成果

• [雑誌論文] A Built-in Test Circuit for Detecting Open Defects by IDDT Appearance Time in CMOS ICs (2014)
  • 著者名/発表者名: Masaki Hashizume, Shohei Suenaga and Hiroyuki Yotsuyanagi
  • 雑誌名: Proc. of International Conference on Design & Concurrent Engineering 2014 巻: (to appear)
  • 査読あり
• [雑誌論文] Built-in IDDT Appearance Time Sensor for Detecting Open Faults in 3D IC (2013)
  • 著者名/発表者名: Shohei Suenaga, Masaki Hashizume, Hiroyuki Yotsuyanagi, Tetsuo Tada and Shyue-Kung Lu
  • 雑誌名: Proc. of IEEE CPMT Symposium Japan(ICSJ2013) ページ: 247-250
  • 査読あり
• [雑誌論文] A Built-in Sensor for IDDT Testing of CMOS ICs (2012)
  • 著者名/発表者名: Shohei Suenaga, Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
  • 雑誌名: Proc. of 2012 International Technical Conference on Circuits/Systems, Computers and Communications ページ: E-M2-05-1-E-M2-05-4
  • 査読あり
• [学会発表] 組込み型IDDT出現時間検出回路の実験による評価用設計 (2013)
  • 著者名/発表者名: 末永翔平, 四柳浩之, 橋爪正樹
  • 学会等名: 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集
  • 発表場所: 徳島大学, 徳島県
  • 年月日: 2013-09-21
• [学会発表] 組込み型IDDT出現時間検出回路による断線故障の検出のための必要条件 (2012)
  • 著者名/発表者名: 末永翔平, 四柳浩之, 橋爪正樹
  • 学会等名: 電気関係学会四国支部連合大会講演論文集
  • 発表場所: 四国電力株式会社総合研修所, 香川県
  • 年月日: 2012-09-29