| 研究課題/領域番号 |
24650022
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| 研究機関 | 九州工業大学 |
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研究代表者 |
温 暁青 九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 教授 (20250897)
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| 研究分担者 |
宮瀬 紘平 九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 助教 (30452824)
梶原 誠司 九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 教授 (80252592)
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| 研究期間 (年度) |
2012-04-01 – 2015-03-31
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| キーワード | LSIテスト / スキャンテスト電力 / クロックスキュー / 最適電力テスト / 低電力テスト / テスト品質 / IR-Drop / テストデータ |
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| 研究実績の概要 |
LSI の大規模化・低電圧化・高速化に伴い、従来技術では対処できないテスト品質低下 （テスト不足・過度テスト）が深刻化し、高品質・低コスト LSI の創出を妨げる大きな問題となっている。本研究では、テストクロックパス周辺の論理スイッチング量の大幅なばらつきに起因する過度なクロックスキューによって内部クロック周期が大きく変動してしまうことがテスト品質低下の一因であるとする内部テストクロック周期変動原因説を提起した上、テスト入力に対するクロックスキュー定量化手法、及び、クロックスキュー削減のためのテスト生成技術とテスト設計技術を開発した。主な研究成果としては、(1)テストクロックばらつきの影響を計るためのメトリック（Weighted Impact）、(2) テストクロックばらつきを削減するためのスキャンセグメント再グルーピング手法（LCTI-SS）、(3)局所キャプチャ電力の高精度調整を特徴とする最適電力テスト手法（Right-Power Testing）、及び、(4)キャプチャ電力安全性保証型組込み自己テスト（Capture-Safety-Guaranteed Logic BIST）、などが挙げられる。これらの研究成果は、新しい研究分野の開拓という高い学術価値だけではなく、スマートフォーンやウェアラブル機器などに欠かせない超低電力LSIの高歩留まり化・高品質化にも貢献できるという高い産業的な価値もあるため、国内外から高く注目されている。
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