| 研究課題/領域番号 |
24650022
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| 研究種目 |
挑戦的萌芽研究
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| 配分区分 | 基金 |
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| 研究分野 |
計算機システム・ネットワーク
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| 研究機関 | 九州工業大学 |
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研究代表者 |
温 暁青 九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 教授 (20250897)
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| 研究分担者 |
宮瀬 紘平 九州工業大学, 情報工学研究院, 助教 (30452824)
梶原 誠司 九州工業大学, 情報工学研究院, 教授 (80252592)
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| 研究期間 (年度) |
2012-04-01 – 2015-03-31
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| キーワード | LSIテスト / スキャンテスト電力 / クロックスキュー / 最適電力テスト / 低電力テスト / テスト品質 / IR-Drop / テストデータ |
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| 研究成果の概要 |
LSI の大規模化・低電圧化・高速化に伴い、従来技術では対処できないテスト品質低下 （テスト不足・過度テスト）が深刻化し、高品質・低コスト LSI の創出を妨げる大きな問題となっている。本研究では、テストクロックパス周辺の論理スイッチング量の大幅なばらつきに起因する過度なクロックスキューによって内部クロック周期が大きく変動してしまうことがテスト品質低下の一因であるとする内部テストクロック周期変動原因説を提起した上、テスト入力に対するクロックスキュー定量化手法、及び、クロックスキュー削減のためのテスト生成技術とテスト設計技術を開発し、その有効性を確認した。
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| 自由記述の分野 |
LSIテスト、テスト容易化設計、故障診断
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