高分子薄膜のバルジ試験によるクリープ特性とクリープ寿命評価

2012 年度 実施状況報告書

• 研究課題/領域番号: 24655104
• 研究機関: 九州大学
• 研究代表者: 高原 淳 九州大学, 先導物質化学研究所, 教授 (20163305)
• 研究期間 (年度): 2012-04-01 – 2014-03-31
• キーワード: バルジ試験 / 高分子薄膜 / 力学物性

研究概要

高分子薄膜の端を固定し、一方向から加圧すると膜の張りだし変形が起こる。この変形は透過膜、燃料電池用電解質膜で観測され、材料の信頼性とも関連して重要である。しかしながらこのような差圧下での膜の変形とくにクリープ挙動とクリープ寿命に関しては高分子力学物性の基礎として重要であるにも関わらず、殆ど研究が行われていない。
本年度は、円形スリットを用いた圧力印加時の高分子薄膜の変形を直接測定するバルジ型の高分子薄膜力学物性試験機を試作した。この装置を用いてバルクの力学物性が既知のポリメタクリル酸メチルあるいはエポキシ薄膜の応力ー歪み曲線を測定し、装置の性能の検証を行った。

現在までの達成度 (区分)

2: おおむね順調に進展している

理由

円形スリットによりバルジ試験可能な段階まで達しているが、スリット型の試験機の作製に関してはまだ試みていない。H25年度の課題である。

今後の研究の推進方策

装置の試作を推進し、目標達成可能な装置の性能を実現する。

次年度の研究費の使用計画

スリット型の薄膜保持用の治具、スリット型での薄膜形状測定可能な光学系を設計しセットアップする。