• 研究課題をさがす
  • 研究者をさがす
  • KAKENの使い方
  1. 課題ページに戻る

2014 年度 実績報告書

DNAを活性層とする電荷保持素子の研究

研究課題

研究課題/領域番号 24656238
研究機関兵庫県立大学

研究代表者

松尾 直人  兵庫県立大学, 工学(系)研究科(研究院), 教授 (10263790)

研究分担者 部家 彰  兵庫県立大学, 工学(系)研究科(研究院), 准教授 (80418871)
山名 一成  兵庫県立大学, 工学(系)研究科(研究院), 教授 (70192408)
神田 一浩  兵庫県立大学, 付置研究所, 教授 (20201452)
大村 泰久  関西大学, 工学部, 教授 (20298839)
研究期間 (年度) 2012-04-01 – 2015-03-31
キーワードシリコン / DNA / MOSFET / ゲート電圧変調 / 電荷保持 / グアニン / クーロンブロケード / クーロンステアケース
研究実績の概要

LSIは,ムーアの法則が成立しない段階に到達しており,従来型CMOSトランジスタは作製が困難である.DNAは自己組織化によるボトムアップで作製可能な事から,微細化の進むエレクトロニクス応用に関して魅力的である.これまでにDNA の2端子,及び,3端子伝導(Au電極)に関して検討されており,特にトランジスタに関しては,CMOS,単電子トランジスタ特性等が報告されている.我々は世界で初めてλ-DNAをチャネル,ゲート,ソース,ドレインをSiで構成したSi-MOSFETを作製し,ゲートによる電流制御が可能である事,DNAが電荷保持特性を有する現象を見出した.この構造はSiO2/Si基板に作製された単結晶Siから成る矩形のソース・ドレイン電極間にPCR法により,λ-DNAチャネル(136or30nm)を形成した.基板をゲート電極としたSi-MOSFETにおいて,ドレイン電流をゲート電圧により制御できる事,及び,繰返し電圧印加の間にリフレッシュ過程を挿入する事によりメモリ効果を見出した.更に,リフレッシュ条件が電荷デトラップ特性に与える影響を調べると共に,塩基の酸化還元電位の値からグアニンが電荷捕獲の中心的役割を担うメカニズムについても検討した.又,Id-Vd特性がヒステリシスを示す事や光酸化による電流値増加も見出しており,DNAが新しいメモリー素子としても期待できる事を示した.最終年度においては,20-200Kにおいてゲート電圧印加で初めてクーロンブロケード,ステアケースを確認した.これはゲート印加によりDNA両端のAGE絶縁膜(1nm)のポテンシャルをバイアス変調させている事から1-3個の電子がDNAにトンネル注入された事に起因する事が明らかになった.更に,200℃の高温状態ではDNAの故障箇所の回復を生じる事を示唆する結果を得たが,これに関しては今後の検討が待たれる.

  • 研究成果

    (5件)

すべて 2015 2014 その他

すべて 学会発表 (4件) 備考 (1件)

  • [学会発表] DNAを使ったメモリートランジスタの伝導機構と電荷保持機構の検討2015

    • 著者名/発表者名
      中村昇平,松尾直人,山名一成,部家彰,高田忠雄,福山正隆,横山新
    • 学会等名
      日本金属学会関西支部主催材料物性談話会
    • 発表場所
      京都大学芝蘭会館
    • 年月日
      2015-01-28
  • [学会発表] DNAをチャネルとするSi半導体MOSFET2014

    • 著者名/発表者名
      松尾直人
    • 学会等名
      新技術説明会(科学技術振興機構)
    • 発表場所
      JST東京本部別館ホール
    • 年月日
      2014-12-04
  • [学会発表] Charge Retention and Conduction Mechanism of DNA Memory Transistor2014

    • 著者名/発表者名
      S. Nakamura, N. Matsuo, K. Yamana, A. Heya, T. Takada, M, Fukuyama, S. Yokoyama
    • 学会等名
      The Proc. The 21th International Workshop on Active-MAtrix Flatpanel Displays and Devices 2014
    • 発表場所
      龍谷大学アバンティ京都ホール
    • 年月日
      2014-07-02 – 2014-07-04
  • [学会発表] Study of the conduction mechanism of DNA memory FET2014

    • 著者名/発表者名
      S.Nakamura, N.Matsuo, K.Yamana, A.Heya and T.Takada
    • 学会等名
      IEEE International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai(2014IMFEDK)
    • 発表場所
      龍谷大学アバンティ京都ホール
    • 年月日
      2014-06-19 – 2014-06-20
  • [備考] 材料・放射光工学専攻の概要

    • URL

      http://www.eng.u-hyogo.ac.jp/graduate/zairyou/index.html

URL: 

公開日: 2016-06-01  

サービス概要 検索マニュアル よくある質問 お知らせ 利用規程 科研費による研究の帰属

Powered by NII kakenhi