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2015 年度 実績報告書

Ⅲ族窒化物半導体を用いた中性子検出半導体の開発

研究課題

研究課題/領域番号 24686014
研究機関静岡大学

研究代表者

中野 貴之  静岡大学, 工学部, 准教授 (00435827)

研究期間 (年度) 2012-04-01 – 2016-03-31
キーワード中性子検出 / 半導体検出器 / 結晶成長 / 放射線検出 / 化合物半導体 / III族窒化物半導体
研究実績の概要

近年、様々な分野での放射線を用いたイメージング技術が用いられており、新しい放射線源として中性子の利用に対する期待が高まっている。本研究においては中性子イメージングセンサーの実現に向けて、III族窒化物半導体を用いた中性子検出の検討を行っている。GaNにBNを混晶させたBGaN半導体を作製することで空乏層中においてB原子により中性子を捕獲・α線を生成し、生成されたα線によりBGaN層を励起することで中性子検出を行う機構を提案および検討している。昨年度までの検討により、BGaNショットキーダイオードの作製を実現し、中性子検出の実現に至っており、提案している原理について実証するに至っている。更にデバイス実現に向けた開発として、高品質BGaN薄膜の作製に向けたBGaN結晶成長メカニズムの解明と、III族窒化物半導体材料の放射線検出特性の詳細評価を実施した。結晶成長においては、ステップ幅などを変化させた成長実験においてステップが大きい場合にBNモル分率および表面平坦性が向上することが確認できた。これは、表面拡散を行っているB原子がステップ端で取り込まれる確率が低く、他の拡散原子と反応しテラス上で核形成を行っていることが原因であると考えている。つまり、BGaN成長においてはテラス上での核形成を抑制し、ステップ端での取り込みを促進するような成長が重要であることがわかった。更に、GaNダイオードを用いた放射線検出特性評価を行い、BGaNの母材となるGaNがγ線や中性子線には感度が低くα線に対して高い感度を持っていることを明らかにした。GaNの放射線検出時における移動度寿命積は10-5 V/cm2程度のオーダーであることも確認した。これらの結果よりBGaN中性子半導体検出器に向けたIII族窒化物半導体の結晶成長と放射線検出特性についての理解を深め、実現に向けた一助となる結果を得た。

現在までの達成度 (段落)

27年度が最終年度であるため、記入しない。

今後の研究の推進方策

27年度が最終年度であるため、記入しない。

次年度使用額が生じた理由

27年度が最終年度であるため、記入しない。

次年度使用額の使用計画

27年度が最終年度であるため、記入しない。

  • 研究成果

    (16件)

すべて 2016 2015 その他

すべて 雑誌論文 (2件) (うち査読あり 2件、 謝辞記載あり 2件) 学会発表 (13件) (うち国際学会 5件、 招待講演 1件) 備考 (1件)

  • [雑誌論文] Effect of substrate offcut angle on BGaN epitaxial growth2016

    • 著者名/発表者名
      Kohei Ueyama, Hidenori Mimura, Yoku Inoue, Toru Aoki, and Takayuki Nakano
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 55 ページ: 05FD05-1-5

    • DOI

      10.7567/JJAP.55.05FD05

    • 査読あり / 謝辞記載あり
  • [雑誌論文] Study of radiation detection properties of GaN pn diode2016

    • 著者名/発表者名
      Mutsuhito Sugiura, Maki Kushimoto, Tadashi Mitsunari, Kohei Yamashita, Yoshio Honda, Hiroshi Amano, Yoku Inoue, Hidenori Mimura, Toru Aoki and Takayuki Nakano
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 55 ページ: 05FJ02-1-3

    • DOI

      10.7567/JJAP.55.05FJ02

    • 査読あり / 謝辞記載あり
  • [学会発表] MOVPE法を用いたBGaN成長における成長雰囲気の検討2016

    • 著者名/発表者名
      中村匠, 矢野雄大, 上山浩平,青木徹,井上翼,小島一信,秩父重英,中野貴之
    • 学会等名
      第63回応用物理学会春季学術講演会
    • 発表場所
      東京工業大学、目黒区、東京都
    • 年月日
      2016-03-19 – 2016-03-22
  • [学会発表] pin-GaN ダイオードを用いたα線検出特性評価2016

    • 著者名/発表者名
      有川卓弥、杉浦睦仁、宇佐美茂佳、久志本真希、本田善央、天野浩、三村秀典、井上翼、青木徹、中野貴之
    • 学会等名
      第63回応用物理学会春季学術講演会
    • 発表場所
      東京工業大学、目黒区、東京都
    • 年月日
      2016-03-19 – 2016-03-22
  • [学会発表] III族窒化物半導体を用いた放射線検出器の開発2016

    • 著者名/発表者名
      中野貴之
    • 学会等名
      2015年静岡大学テニュアトラックシンポジウム
    • 発表場所
      静岡大学、浜松市、静岡県
    • 年月日
      2016-03-01 – 2016-03-01
    • 招待講演
  • [学会発表] Evaluation of radiation detection characteristics for GaN diode2015

    • 著者名/発表者名
      Mutsuhito Sugiura, Maki Kushimoto, Tadashi Mitsunari, Kohei Yamashita, Yoshio Honda, Hiroshi Amano, Yoku Inoue, Hidenori Mimura, Toru Aoki, and Takayuki Nakano
    • 学会等名
      The 6th International Symposium on Growth of III-Nitrides (ISGN-6)
    • 発表場所
      Act City Hamamatsu, Hamamatsu, Japan
    • 年月日
      2015-11-08 – 2015-11-13
    • 国際学会
  • [学会発表] Characterization of fabricated BGaN films at each growth conditions2015

    • 著者名/発表者名
      Kohei Ueyama, Hidenori Mimura, Yoku Inoue, Toru Aoki, and Takayuki Nakano
    • 学会等名
      The 6th International Symposium on Growth of III-Nitrides (ISGN-6)
    • 発表場所
      Act City Hamamatsu, Hamamatsu, Japan
    • 年月日
      2015-11-08 – 2015-11-13
    • 国際学会
  • [学会発表] Development of high B composition BGaN by Mg surfactant2015

    • 著者名/発表者名
      T. Nakamura, K. Ueyama, Y. Inoue, H. Mimura, T. Aoki, and T. Nakano
    • 学会等名
      The 14th International Conference on Global Research and Education
    • 発表場所
      Act City Hamamatsu, Hamamatsu, Japan
    • 年月日
      2015-09-28 – 2015-09-30
    • 国際学会
  • [学会発表] Efficiency of Al source supply to B composition in BAlGaN epitaxial growth2015

    • 著者名/発表者名
      T. Arikawa, Y. Inoue, H. Mimura, T. Aoki, and T. Nakano
    • 学会等名
      The 14th International Conference on Global Research and Education
    • 発表場所
      Act City Hamamatsu, Hamamatsu, Japan
    • 年月日
      2015-09-28 – 2015-09-30
    • 国際学会
  • [学会発表] MOVPE法にて作製したBGaN結晶の諸特性の評価2015

    • 著者名/発表者名
      上山 浩平、中村 匠、三村 秀典、井上 翼、青木 徹、中野 貴之
    • 学会等名
      第76回応用物理学会秋季学術講演会
    • 発表場所
      名古屋国際会議場、名古屋市、愛知県
    • 年月日
      2015-09-13 – 2015-09-16
  • [学会発表] GaNにおける放射線検出特性の実験的評価(2)2015

    • 著者名/発表者名
      杉浦 睦仁、久志本 真希、光成 正、山下 康平、本田 善央、天野 浩、三村 秀典、井上 翼、青木 徹、中野 貴之
    • 学会等名
      第76回応用物理学会秋季学術講演会
    • 発表場所
      名古屋国際会議場、名古屋市、愛知県
    • 年月日
      2015-09-13 – 2015-09-16
  • [学会発表] Dependencies of growth temperature and carrier gases in BGaN growth2015

    • 著者名/発表者名
      K. Ueyama, H. Mimura, Y. Inoue, T. Aoki and T. Nakano
    • 学会等名
      34th Electronic Materials Symposium (EMS34)
    • 発表場所
      Laforret Biwako, Moriyama, Shiga
    • 年月日
      2015-07-15 – 2015-07-17
  • [学会発表] Characterization of radiation detection for GaN semiconductor material2015

    • 著者名/発表者名
      M. Sugiura, M. Kushimoto, T. Mitsunari, K. Yamashita, Y. Honda, H. Amano, Y. Inoue, H. Mimura, T. Aoki and T. Nakano
    • 学会等名
      34th Electronic Materials Symposium (EMS34)
    • 発表場所
      Laforret Biwako, Mosiyama, Shiga
    • 年月日
      2015-07-15 – 2015-07-17
  • [学会発表] GaN 半導体材料における放射線検出特性評価2015

    • 著者名/発表者名
      杉浦睦仁,久志本真希,光成正,山下康平,本田善央,天野 浩,三村秀典,井上翼,青木徹,中野貴之
    • 学会等名
      第7回 窒化物半導体結晶成長講演会
    • 発表場所
      東北大学片平キャンパス片平さくらホール、仙台市、宮城県
    • 年月日
      2015-05-07 – 2015-05-08
  • [学会発表] Characterization of Radiation Detection for GaN2015

    • 著者名/発表者名
      M. Sugiura, M. Kushimoto, T. Mitsunari, K Yamashita, Y. Honda, H. Amano, Y. Inoue, H. Mimura, T. Aoki, and T. Nakano
    • 学会等名
      The 3rd International Conference on Light-Emitting Devices and Their Industrial Applications (LEDIA'15)
    • 発表場所
      Pacifico Yokohama, Kanagawa, Japan
    • 年月日
      2015-04-22 – 2015-04-24
    • 国際学会
  • [備考] 研究室HP

    • URL

      http://nakanolab.eng.shizuoka.ac.jp/index.html

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公開日: 2017-01-06  

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