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2015 年度 実績報告書

実用化に向けて相変化メモリにおける高速高信頼性多値記録に関する研究

研究課題

研究課題/領域番号 24686042
研究機関群馬大学

研究代表者

イン ユウ  群馬大学, 大学院理工学府, 助教 (10520124)

研究期間 (年度) 2012-04-01 – 2017-03-31
キーワード多値記録 / 不揮発性メモリ / 相変化メモリ
研究実績の概要

GeTeメモリ素子に2段の階段パルスを印加し、素子の抵抗変化を制御した。第1パルスが20ns,3.5Vで、第2パルスの高さを1Vに固定し、幅を0から300nsを変えた。8抵抗レベルを得ることができた。また、その抵抗変化制御の結果に基づき、パルス幅に依存する結晶温度を調べた。Ge2Sb2Te5の素子よりGeTeの方がnsオーダーで高速で動作することができた。また、パルスによる抵抗変化特性から活性化エネルギーを算出した。GeTeとGe2Sb2Te5の活性化エネルギーはそれぞれ0.65eVと0.71eVである。
有限要素法により、抵抗状態を転移させる時の熱散逸による素子間の影響を検討した。隣の素子を動作させる時に熱が伝わってくるので、熱散逸による影響を抑制する方法が重要である。素子を隔離させる絶縁物が入ると、熱の散逸を抑制することが期待できる。また、熱伝導率の異なった材料を比べ、Si3N4よりSiO2の方が熱散逸による影響をよく抑制することが分かった。
シングル素子の場合と違って、ウエハ上での素子の初期時の抵抗状態のバラツキ抑制が重要となるため、厳しい監視の下で各プロセスを行った。相変化層を形成する前に、電極をプラズマ―エッチングを行い、コンタクト抵抗のバラツキを抑えることができた。相変化層を形成する時に、基板温度をコントロールすることも大事であることが分かった。また、状態転移させる時に生じた各素子の同抵抗レベルのバラツキを評価した。状態転移させる時に熱拡散による素子間の保存した状態への影響を調べた。

現在までの達成度 (区分)
現在までの達成度 (区分)

3: やや遅れている

理由

以下のことがあったため、研究が遅れている。
1.素子作製用装置が故障した。
2.素子の動作特性の評価装置も故障した。

今後の研究の推進方策

ウエハ上で素子を作製し、デバイス間のバラツキを調べ、抑制方法を更に検討する。

次年度使用額が生じた理由

装置が故障したので、研究がやや遅れた。

次年度使用額の使用計画

素子を作製するため、材料、基板と薬品等を購入する。
研究成果を雑誌に掲載するための費用が掛かる。
また、学会発表のため、旅費等が掛かる。

  • 研究成果

    (15件)

すべて 2016 2015 その他

すべて 国際共同研究 (1件) 雑誌論文 (7件) (うち国際共著 6件、 査読あり 7件、 謝辞記載あり 5件、 オープンアクセス 3件) 学会発表 (7件) (うち国際学会 7件、 招待講演 3件)

  • [国際共同研究] KAIST(韓国)

    • 国名
      韓国
    • 外国機関名
      KAIST
  • [雑誌論文] Ultra-multiple and reproducible resistance levels based on intrinsic crystallization properties of Ge1Sb4Te7 film2016

    • 著者名/発表者名
      Y. Yin, S. Iwashita, S. Hosaka, T. Wang, J. Li, Y. Liu, and Q. Yu
    • 雑誌名

      Appl. Surf. Sci.

      巻: 369 ページ: 348-353

    • DOI

      10.1016/j.apsusc.2016.02.057

    • 査読あり / 国際共著 / 謝辞記載あり
  • [雑誌論文] Sub 10 ns fast switching and resistance control in lateral GeTe-based phase-change memory2016

    • 著者名/発表者名
      Y. Yin, Y. Zhang, Y. Takehana, R. Kobayashi, H. Zhang, and S. Hosaka
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys.

      巻: 55 ページ: 06GG07 1-6

    • DOI

      10.7567/JJAP.55.06GG07

    • 査読あり / 謝辞記載あり
  • [雑誌論文] Hierarchically Self-Assembled Block Copolymer Blends for Templating Hollow Phase-change Nanostructures with an Extremely Low Switching Current2015

    • 著者名/発表者名
      W. I. Park, J. M. Kim, J. W. Jeong, Y. H. Hur,Y. J. Choi, S.-H. Kwon,S. Hong, Y. Yin, Y. S. Jung, and K. H. Kim
    • 雑誌名

      Chemistry of Materials

      巻: 27 ページ: 2673-2677

    • DOI

      10.1021/acs.chemmater.5b00542

    • 査読あり / 国際共著
  • [雑誌論文] Flexible one diode-one phase change memory array enabled by block copolymer self-assembly2015

    • 著者名/発表者名
      B. Mun, B. You, S. Yang, H. Yoo, J. Kim, W. Park, Y. Yin, M. Byun, Y. Jung, and K. Lee
    • 雑誌名

      ACS Nano

      巻: 9 ページ: 4120-4128

    • DOI

      10.1021/acsnano.5b00230

    • 査読あり / 国際共著
  • [雑誌論文] Oxygen-doped Sb2Te3 for high-performance phase-change memory2015

    • 著者名/発表者名
      Y. Yin, S. Morioka, S. Kozaki, R. Satoh, and S. Hosaka
    • 雑誌名

      Appl. Surf. Sci.

      巻: 349 ページ: 230-234

    • DOI

      10.1016/j.apsusc.2015.04.229

    • 査読あり / オープンアクセス / 国際共著 / 謝辞記載あり
  • [雑誌論文] Localization of Joule heating in phase-change memory with incorporated nanostructures and nanolayer for reducing reset current2015

    • 著者名/発表者名
      Y. Yin, and T. Wang
    • 雑誌名

      IEEE Trans. Electron Devices

      巻: 62 ページ: 2184-2189

    • DOI

      10.1109/TED.2015.2429689

    • 査読あり / オープンアクセス / 国際共著 / 謝辞記載あり
  • [雑誌論文] The Dependence of Crystallization on Temperature in the Nanosecond Timescale for GeTe-based Fast Phase-Change Resistor2015

    • 著者名/発表者名
      H. Zhang, Y. Zhang, Y. Yin, and S. Hosaka
    • 雑誌名

      Chemical Physics Letters

      巻: 650 ページ: 102-106

    • DOI

      10.1016/j.cplett.2016.03.002

    • 査読あり / オープンアクセス / 国際共著 / 謝辞記載あり
  • [学会発表] Multilevel Storage in Lateral Phase-Change Memory2016

    • 著者名/発表者名
      Y. Yin
    • 学会等名
      2016 International Workshop on Information Storage / 10th International Symposium on Optical Storage (IWIS/ISOS 2016)
    • 発表場所
      Changzhou, China
    • 年月日
      2016-04-10 – 2016-04-13
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Crystal growth control in chalcogenide and its application to multilevel storage in phase-change memory2015

    • 著者名/発表者名
      Y. Yin
    • 学会等名
      The Collaborative Conference on Crystal Growth (3CG 2015)
    • 発表場所
      Hongkong
    • 年月日
      2015-12-14 – 2015-12-17
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Sub 10 ns Fast Switching and Resistance Control in Lateral GeTe-Based Phase-Change Memory2015

    • 著者名/発表者名
      Y. Yin, Y. Zhang, Y. Takehana, R. Kobayashi, H. Zhang and S. Hosaka
    • 学会等名
      28th International Microprocesses and Nanotechnology Conference (MNC 2015)
    • 発表場所
      Toyama, Japan
    • 年月日
      2015-11-10 – 2015-11-13
    • 国際学会
  • [学会発表] Nanosecond-Order Fast Switching and Ultra-Multilevel Storage in Lateral GeTe and Ge1Sb4Te7-Based Phase-Change Memories2015

    • 著者名/発表者名
      Y. Yin, and S. Hosaka
    • 学会等名
      The 11th International Conference on ASIC (ASICON 2015)
    • 発表場所
      Chengdu, China
    • 年月日
      2015-11-03 – 2015-11-06
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] Localization of Joule Heating in Phase-Change Memory with Incorporated Insulating Nanostructures and Nanolayer for Ultralow Operation Current2015

    • 著者名/発表者名
      Y. Yin, and S. Hosaka
    • 学会等名
      the International Conference on Nanoscience and Technology, China 2015 (ChinaNANO 2015)
    • 発表場所
      Beijing, China
    • 年月日
      2015-09-03 – 2015-09-05
    • 国際学会
  • [学会発表] Oxygen-Doped Sb2Te3 for Low-Power-Consumption Phase-Change Memory2015

    • 著者名/発表者名
      Y. Yin, S. Morioka, R. Satoh, S. Kozaki, S. Hosaka
    • 学会等名
      8th International Conference on Materials for Advanced Technologies (ICMAT2015)
    • 発表場所
      Suntec, Singapore
    • 年月日
      2015-06-28 – 2015-07-03
    • 国際学会
  • [学会発表] Ultrahigh-density Multilevel-storage Nano Phase-change Memory Array2015

    • 著者名/発表者名
      Y. Yin, S. Hosaka
    • 学会等名
      8th International Conference on Materials for Advanced Technologies (ICMAT2015)
    • 発表場所
      Suntec, Singapore
    • 年月日
      2015-06-28 – 2015-07-03
    • 国際学会

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公開日: 2017-01-06  

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