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2013 年度 研究成果報告書

システムLSIのテスト効率化のためのアナログ回路向けストラクチャルテスト手法

研究課題

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研究課題/領域番号 24700043
研究種目

若手研究(B)

配分区分基金
研究分野 計算機システム・ネットワーク
研究機関東京大学

研究代表者

小松 聡  東京大学, 大規模集積システム設計教育研究センター, 准教授 (90334325)

研究期間 (年度) 2012-04-01 – 2014-03-31
キーワードVLSI設計技術
研究概要

本研究では、アナログ回路にディジタル回路向けのアイディア(ストラクチャルテスト)を活用するというアイディアに基づき、システムLSI の製造テストの効率化を目指して研究を行った。
いくつかのアナログ回路モジュールに対して、入力スティミュラスとそれに対する出力の伝達特性について、SPICE回路シミュレーションによる解析と評価を行なった。また、アナログ回路のテスト時に必須となる、オンチップでの信号サンプラ技術について検討を行った。アナログ-ディジタル変換および時間-ディジタル変換のための信号サンプラ回路についての性能向上の検討を行い、アナログ回路の高精度なテストに有効であることを示した。

  • 研究成果

    (3件)

すべて 2014 2013

すべて 学会発表 (3件)

  • [学会発表] A Subsampling Stochastic Coarse-Fine ADC with SNR 55.3dB and >5.8TS/s Effective Sample Rate for an on-Chip Signal Analyzer2014

    • 著者名/発表者名
      James Tandon, Takahiro Yamaguchi, Satoshi Komatsu, Kunihiro Asada
    • 学会等名
      IEEE International Symposium on Circuits and Systems 2014
    • 発表場所
      Melbourne, Australia
    • 年月日
      2014-06-02
  • [学会発表] A Stochastic Sampling Time-to-Digital Converter with Tunable 180-770fs Resolution, INL less than 0.6LSB, and Selectable Dynamic Range Offset2013

    • 著者名/発表者名
      James S. Tandon, Takahiro J. Yamaguchi, Satoshi Komatsu, and Kunihiro Asada
    • 学会等名
      IEEE Custom Integrated Circuits Conference (CICC)
    • 発表場所
      San Jose, CA, USA
    • 年月日
      2013-09-11
  • [学会発表] On-chip Measurement / Monitor Circuits Based-on Stochastic Approach2013

    • 著者名/発表者名
      S. Komatsu
    • 学会等名
      2013 International Test Conference (Elevator Talk)
    • 発表場所
      Anaheim, CA, USA
    • 年月日
      2013-09-10

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公開日: 2015-06-25  

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