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A=2の低アスペクト比逆磁場ピンチ装置におけるヘリカル平衡RFP配位への遷移現象のダイナミクスを解明するために，軟X線画像を高速で二方向から同時撮像できる機構を構築した．撮像された結果から，平衡再構成と磁力線追跡及びCT技術を用いて内部構造の再構成を行い，周辺磁場揺動が単一モードの成長を示すRFP放電において，ヘリカル様の三次元構造が実現していることを示唆する結果を得た．吸収法と軟X線画像計測法を組み合わせる事で，新たに二次元電子温度分布計測システムを開発した．このシステムを用いて，ヘリカル変形時の二次元電子温度画像を撮像することに成功した．
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