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タングステンイオンの再結合および電離断面積を理論計算し，その精度を実験測定によって確かめることが目的である．理論計算に直接的に対応する実験測定を行うのは困難であるが，ここではスペクトル線強度が本来持つ電子衝突エネルギーへの依存性を打ち消す方法を考案し，これによってW44+とW45+のスペクトル線強度比（実験測定）とW45+とW44+の再結合・電離断面積比（理論計算）を直接的に比較する．
比較の結果，理論計算値は実験の測定誤差と同程度で実験測定値を再現した．この結果は，精度評価済みの断面積が生産されたことを意味し，これはプラズマ中のタングステンイオン密度測定に切望されていたデータである．
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