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太陽光利用型植物工場で栽培されるトマト果実を対象とし、生理障害である芯腐れが発生したトマト果実を選別するために、近赤外分光法を用いたトマト果実の芯腐れの非破壊検出法の確立を目的とする。また、近赤外カメラを用いて画像を用いた芯腐れ部位の検出を行った。
その結果、正常なトマト果実と芯腐れトマト果実のスペクトルデータを取得し、吸光度の2次微分を行った波形で、正常なトマト果実では600～650nm付近にピークがあるのに対し、芯腐れ果実では、600nm付近にピークが見られる傾向がみられた。また、トマト果実内部の芯腐れを、非破壊で近赤外カメラを用いて取得した画像から検出することが可能であることが示唆された。
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