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本年度は、雌雄エピゲノムの非対称性が破綻した胚を作出し、その発生能および発現崩壊遺伝子群の同定を試みた。遺伝子X（仮名）を発現亢進させた胚では、一見正常な胚発生を遂げているが、一部の遺伝子群では発現亢進、抑制が生じていることが明らかとなった。これらの胚（胚盤胞）において、網羅的遺伝子発現解析を行った。
マイクロアレイによるゲノムワイドな遺伝子発現解析の結果、遺伝子Xを過剰発現させたグループでは、多能性関連遺伝子群には殆ど影響がないことが明らかとなった。一方で、特定の遺伝子群には発現抑制が確認された。さらに、発生能試験においては、ある状況下における胚では、発生能に著しく影響を及ぼすことが明らかとなった。これらの結果は、現在国際誌へと投稿中である。
また、興味深いことに、遺伝子Xは胚性幹細胞（ES細胞）では、著しい発現抑制されているが、過剰発現させると、自己複製能に影響を及ぼす結果が得られた。ES細胞における遺伝子X抑制の意義に関しては、現在詳細な解析中である。
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