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繰り返す流産などの不育症は、大部分の原因が不明である。そこで、本研究では、受精胚側における機能欠失の原因究明を探るべく、受精後に確認される雌雄ゲノムの非対称なエピゲノム修飾に注目し研究を行った。エピゲノム修飾の非対称性を消失した胚は、胚盤胞において、形態的に正常な胚でも、遺伝子発現レベルでは大きな影響があることが確認された。さらに、これらの胚では特定の条件下において、発生能に著しい影響を及ぼすことが明らかとなった。エピゲノム修飾の非対称性は、正常な発生を完遂するうえで極めて重要であることが示され、その破綻は不育症の一因となることが示唆された。
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