研究課題
基盤研究(A)
ワイドギャップ半導体であるAlNおよびSiCを対象として、結晶成長界面の温度、流れ、界面飽和度をリアルタイムに評価する手法を確立することは、高温であるがゆえに困難を伴う。この難しい課題に先端的研究手法を用いて挑む本研究は、材料学の研究として高い意義を有している。本研究から得られる情報は高品質なパワー半導体の開発に繋がる可能性が高いと期待される。