研究課題
基盤研究(A)
本研究は、動作している最中の有機半導体薄膜内部の電位分布を電子線ホログラフィーを用いて直接観察することにより、有機半導体デバイスの発光/劣化のメカニズムを解明しようとするものであり、大変独創的である。応募者らは機械学習を利用して60倍程度の高感度化を実現しており、試料にダメージを与えにくい低ドーズ電子線下での観察も達成している。この世界をリードする研究を進展させ、有機エレクトロニクスの分野に大きな波及効果をもたらすと期待される。