| 研究課題/領域番号 |
25220907
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| 研究種目 |
基盤研究(S)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 研究分野 |
計測工学
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| 研究機関 | 東京大学 |
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研究代表者 |
保立 和夫 東京大学, 大学院工学系研究科(工学部), 教授 (60126159)
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| 連携研究者 |
山下 真司 東京大学, 先端科学技術研究センター, 教授 (40239968)
岸 眞人 東京大学, 大学院工学系研究科, 助教 (00150285)
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| 研究期間 (年度) |
2013-05-31 – 2017-03-31
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| キーワード | 計測システム / 光ファイバセンサ / スマート材料構造 / 分布型センシング |
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| 研究成果の概要 |
光源の光周波数変調で干渉特性を合成して光ファイバ中の散乱等を分布測定する独自技術「光相関領域法」の学術基盤を確立した。航空機翼や橋に「光ファイバ神経網」を張り、歪や温度を分布測定し「痛みの分かる材料・構造」を実現する。本研究では、誘導および自然ブリルアン散乱を活用した両独自技術で、理論とシミュレーション法を拡充して機能制限要因の挙動を精査し、その対策を提案・実証した。分解能、測定長、測定速度、ランダムアクセス、雑音低減諸技術統合、システム簡素化、歪・温度同時計測等で成果をあげた。レンジ・分解能比134,000は自然散乱法の最高値である。航空や建設分野で構造物健全性診断への応用研究も進展させた。
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| 自由記述の分野 |
工学
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