| 研究課題/領域番号 |
25280015
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 一部基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
計算機システム
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| 研究機関 | 奈良先端科学技術大学院大学 |
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研究代表者 |
井上 美智子 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 教授 (30273840)
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| 研究分担者 |
米田 友和 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助教 (20359871)
大和 勇太 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助教 (20707244)
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| 研究期間 (年度) |
2013-04-01 – 2016-03-31
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| キーワード | LSI信頼性 / 組み込み自己テスト / IRドロップ / 組み込みメモリ |
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| 研究成果の概要 |
LSIライフサイクル全般の信頼性向上のための組み込み自己テストに関する研究を行った。組み込み自己テストのテストデータ量およびテスト時間削減手法を提案しフィールド運用時にも自己テストを可能にするとともに、テスト精度を向上させるための電圧ノイズや遅延故障時の解析技術の向上、また、組み込みメモリの信頼性向上のためのアーキテクチャの提案を行った。
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| 自由記述の分野 |
ディペンダブルコンピューティング
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