| 研究課題/領域番号 |
25280016
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 一部基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
計算機システム
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| 研究機関 | 九州工業大学 |
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研究代表者 |
温 暁青 九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 教授 (20250897)
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| 研究分担者 |
宮瀬 紘平 九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 准教授 (30452824)
Holst Stefan 九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 助教 (40710322)
梶原 誠司 九州工業大学, 大学院情報工学研究院, 教授 (80252592)
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| 研究協力者 |
樹下 行三
Saluja K. K.
Tehranipoor M.
Girard P.
相京 隆
高木 範明
Keller B.
Varma P.
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| 研究期間 (年度) |
2013-04-01 – 2018-03-31
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| キーワード | LSIテスト / スキャンテスト / テスト電力 / キャプチャ電力 / IR-Dop / クロックストレッチ / 誤テスト / テストデータ変更 |
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| 研究成果の概要 |
本研究では、LSIスキャンテストにおいて、遅延故障検出に寄与しない無効入力遷移が多く存在することに着目し、無効入力遷移を回路内に伝搬させない選択的入力遷移マスク回路を提案した。シミュレーション及びテストチップによる実測によって、テスト品質を低下させずに自己テスト電力を大幅に削減きることが確認できた。また、クロック信号線周辺の状態遷移削減によって、クロックストレッチを抑え、実速度スキャンテストの精度を高めることに成功した。提案手法は、超低電力性を要求される体内埋込み型医療機器向けLSI回路のテストに大きく寄与する。
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| 自由記述の分野 |
LSIテスト
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