| 研究課題/領域番号 |
25287068
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 一部基金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
物性Ⅰ
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| 研究機関 | 東北大学 |
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研究代表者 |
津田 健治 東北大学, 多元物質科学研究所, 教授 (00241274)
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| 連携研究者 |
寺内 正己 東北大学, 多元物質科学研究所, 教授 (30192652)
西松 毅 東北大学, 金属材料研究所, 助教 (70323095)
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| 研究期間 (年度) |
2013-04-01 – 2016-03-31
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| キーワード | 収束電子回折 / 電子顕微鏡 / STEM-CBED法 / 誘電体物性 / 構造相転移 |
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| 研究成果の概要 |
走査透過型電子顕微鏡法（Scanning Transmission Electron Microscopy: STEM）と収束電子回折（Convergent-Beam Electron Diffraction: CBED）法を組み合わせることで，局所構造の変化を2次元分布として計測できる新たな手法（STEM-CBED法）を開発し，エネルギーフィルター透過型電子顕微鏡JEM-2010FEF上でシステムを構築した．この手法をチタン酸バリウム（BaTiO3）等のペロブスカイト型強誘電体に適用し，強誘電転移前後での局所構造変化を調べた．ナノスケールの局所構造の揺らぎを直接観測することに成功した．
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| 自由記述の分野 |
電子線結晶学，固体物理
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