研究課題/領域番号 |
25287068
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研究種目 |
基盤研究(B)
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配分区分 | 一部基金 |
応募区分 | 一般 |
研究分野 |
物性Ⅰ
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研究機関 | 東北大学 |
研究代表者 |
津田 健治 東北大学, 多元物質科学研究所, 教授 (00241274)
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連携研究者 |
寺内 正己 東北大学, 多元物質科学研究所, 教授 (30192652)
西松 毅 東北大学, 金属材料研究所, 助教 (70323095)
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研究期間 (年度) |
2013-04-01 – 2016-03-31
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キーワード | 収束電子回折 / 電子顕微鏡 / STEM-CBED法 / 誘電体物性 / 構造相転移 |
研究成果の概要 |
走査透過型電子顕微鏡法(Scanning Transmission Electron Microscopy: STEM)と収束電子回折(Convergent-Beam Electron Diffraction: CBED)法を組み合わせることで,局所構造の変化を2次元分布として計測できる新たな手法(STEM-CBED法)を開発し,エネルギーフィルター透過型電子顕微鏡JEM-2010FEF上でシステムを構築した.この手法をチタン酸バリウム(BaTiO3)等のペロブスカイト型強誘電体に適用し,強誘電転移前後での局所構造変化を調べた.ナノスケールの局所構造の揺らぎを直接観測することに成功した.
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自由記述の分野 |
電子線結晶学,固体物理
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